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'Buried'
Interface Science with X-rays and Neutrons 2006 埋もれた界面のＸ線・中性子解析に関するワークショップ2006 |
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| ２００６年７月３日（月） | ||
| （午前の座長１) 桜井健次 | ||
| 9:00 〜 9:40 | X線で明かす埋もれた界面の構造ー分かった事、知りたい事ー | 竹田（名大） |
| 9:40 〜10:20 | Analysis of Surface and Interface Structure of Polymer Ultrathin Films by X-ray and Neutron Reflectivity Measurements | 高原(九大） |
| 10:20 〜 10:40 | 休憩（コーヒーブレーク） | |
| （午前の座長２) 竹田美和 | ||
| 10:40 〜 11:20 | 生分解性高分子の表面界面構造とその時間・温度発展 | 高橋（功）（関学大) |
| 11:20 〜 12:00 | 半導体ナノドット成長過程のリアルタイムX線回折 | 高橋（正）（原研) |
| 12:00 〜 13:30 | 昼食休憩 | |
| 13:30 〜 14:10 | 反射率のデータ解析に関する意見交換 | |
| １. International standards and software in X-ray reflectomery | 桜井（NIMS) | |
| ２. Fourier Transform Analysis of X-ray Reflectivity from Thin-Film Stacks using the Anomalous Dispersion Effect | 上田(日立) | |
| （午後の座長１) 高橋正光 | ||
| 14:10 〜 14:30 |
Interfacial
Science of Soft-Material on the J-PARC Pulsed-Neutron Reflectometer |
鳥飼（KEK） |
| 14:30 〜 14:50 | 軟Ｘ線MCDによるFe/Si多層膜界面の磁性状態の研究 | 柳原（東北大） |
| 14:50 〜 15:10 | 休憩（コーヒーブレーク） | |
| （午後の座長２) 林好一 | ||
| 15:10 〜 15:30 | 偏極中性子鏡面／非鏡面反射法による磁気デバイス用薄膜の磁気構造および磁区構造解析について | 武田（原研） |
| 15:30 〜 15:50 | GISAXS による Si(113) 上 Ge ナノワイヤーの構造解析 | 表（リガク） |
| 15:50 〜 16:10 | GISAXSによる高分子ナノ多孔体の解析 | 横山（産総研） |
| 16:10 〜 16:30 | 埋もれた界面内のナノメートル位置分解分光分析 | 石井（JASRI） |
| 16:30 〜 16:45 | 休憩（会場準備） | |
| 16:45 〜 19:00 | 懇親会 | |
| （夜の討論企画の座長) 桜井健次 | ||
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話題提供 （５分講演） 1)新しい実験・装置技術およびデータ解析技術 2) 新しい応用分野 |
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| 19:00 〜 21:30 |
In-situ x-ray measurement of phase separation process of polymer/plasticizer mixture (tentative) |
松野（旭化成） |
| 実験室反射率装置の高分解能化 | 谷（リコー） | |
| 全反射XAFS法の水溶液表面への適用 | 谷田(JASRI) | |
| ルテニウム表面における酸素分子の解離吸着過程 | 高橋真（京大） | |
| 中性子反射率計を用いたリン脂質薄膜の観測 | 山田（KEK） | |
| 強磁場マグネトロンスパッタ装置によるＭｏ/Si多層膜の作成 | 山口（JST東海プラザ） | |
| X線CTR散乱測定によるGaInN系多層構造界面の解析 | 田淵（名大） | |
| 強誘電体薄膜／Si構造の構造物性研究と構造評価法としてのＸ線反射率解析 | 香野（福岡大） | |
| メソ多孔体薄膜の作成とナノ微粒子の配列制御への展開 | 田尻（福岡大） | |
| 高分子修飾微粒子が気水界面で形成する単粒子膜に対するX線反射率測定 | 毛利（九工大） | |
| ２００６年７月４日（火） | ||
| Chair: Sakurai | ||
| 9:10 〜 10:10 | Analysis of mesostructured thin films by x-ray reflectivity and GISAXS | Gibaud |
| Chair: Gibaud | ||
| 10:10 〜10:40 | In-situ GI-SAXS oｎ self-organization process of Fe-based alloy films | Okuda |
| 10:40 〜 11:00 | Coffee Break | |
| Chair: Sakata | ||
| 11:00 〜 11:30 | Surface structure analysis with using X-ray Multiple-Wave Diffraction | Yashiro |
| 11:30 〜 12:00 | Strain distribution at buried interfaces revealed by extremely asymmetric x-ray diffraction | Akimoto |
| 12:00 〜 13:30 | Lunch Break | |
| Chair: Sakurai | ||
| 13:30 〜 14:00 | X-ray spectrometry in the PTB lab at BESSY used for wafer contamination analysis and speciation as well as for reference-free nano layer characterization | Beckoff |
| Chair: Akimoto | ||
| 14:00 〜 14:20 | Reciprocal-lattice-space imaging of 1D and 2D nanostructures by the obvious-at-a-glance x-ray diffraction method | Sakata |
| 14:20 〜 14:40 | Structural analysis of semiconductor on insulators for next generation semiconductor devices | Kawamura |
| Chair: Torikai | ||
| 14:40 〜 15:00 | Film structure analysis using X-ray waveguide phenomenon | Hayashi |
| 15:00 〜 15:20 | Green Molecular Engineering using Supercritical Carbon Dioxide | Koga |
| 15:20 〜 | Closing | |