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'Buried'
Interface Science with X-rays and Neutrons 2007 埋もれた界面のＸ線・中性子解析に関するワークショップ2007 |
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| ２００７年７月２２日（日） | ||
| 反射率法のモデルフリー解析に関する討論 （15:00 〜17:30） | ||
| 15:00 〜17:30 |
１．はじめに Introductory Talk |
桜井健次（ＮＩＭＳ） |
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２．特殊条件下におけるX線定在波法による位相問題の解決法 Possible solution for phase problem by means of X-ray standing wave technique in special case |
林好一（東北大） | |
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３．2波長差分反射率法による積層構造解析法の検討 Structural analysis of thin-film stacks using differential X-ray reflectivity by subtraction of two-wavelengths |
上田和浩（日立） |
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４．フーリエ変換法およびウエーブレット変換法について Fourier and Wavelet transform in X-ray reflectivity |
桜井健次（ＮＩＭＳ） | |
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５．両親媒性ブロック共重合体が形成する単分子膜の反射率測定による構造解析 Structure analysis of amphiphilic di-block copolymer monolayer by X-ray reflectivity |
吉田博久（首都大東京）、 | |
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６．反射率測定における位相問題 Phase problem in neutron reflectivity |
武田全康（原子力機構） | |
| ７．討論のサマリ | ||
| 18:00〜 |
懇親会 レストラン「五幸懐石」 （ホテルパールシティ仙台内） http://www.hmi-hotel.co.jp/miyagi/sendai/up_fr/fr_food.html お一人様、会費（４０００円）にて、参加登録をお待ちしております。 |
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| 20:30〜 | 科研費会合 （ホテルパールシティ仙台内にて） | |
| ２００７年７月２３日（月） | ||
| （午前の座長１) 桜井健次 | ||
| 09:00 〜 09:40 |
半導体量子ドット成長の実空間・逆格子空間解析 X-ray analysis of semiconductor quantum dot structures in real space and reciprocal space |
高橋正光（原子力機構） |
| 09:40 〜 10:20 |
微小角入射Ｘ線回折を使った表面多結晶層の深さ方向構造解析 Structural analysis of poly-crystalline layers under surface using x-ray diffraction at small glancing angle of incidence |
藤居義和（神戸大） |
| 10:20 〜 10:40 | 休憩（コーヒーブレーク） | |
| （午前の座長２) 川村朋晃 | ||
| 10:40 〜 11:00 | 多波回折現象を利用したSiO_2/Si界面下のひずみの測定
― 深さ方向分布の酸化プロセス依存性 Oxidation process dependence of strain field under the SiO_2/Si(001) interface revealed by X-ray multiple-wave diffraction |
矢代航（東大） |
| 11:00 〜 11:20 |
シリコン熱酸化のX線全反射によるその場観察 Real time x-ray reflectivity measurements on thermal oxidation of silicon |
尾身博雄（NTT） |
| 11:20 〜 11:40 |
X線・中性子相補利用による，磁気多層膜の磁気構造解析 Magnetic Structural Analysis of magnetic multilayers by complementary use of X-ray and neutrons. |
武田全康（原子力機構） |
| 11:40 〜 12:00 |
表面X線回折法によるInP(001)(2×4)構造の研究 InP(001)(2×4) surface structure studied by surface X-ray diffraction |
秋本晃一（名大） |
| 12:00 〜 13:30 | 昼食休憩 | |
| （午後の座長１) 奥田浩司 | ||
| 13:30 〜 13:40 | 科研費特定領域研究「埋もれた界面」について On the new project 'Buried Interfaces' |
桜井健次（NIMS) |
| 13:40 〜 14:10 |
埋もれた界面の制御について Group A01: Control of Buried Interfaces |
竹田美和（名大） |
| 14:10 〜 14:40 | 埋もれた界面の機能について Group A02: Function of Buried Interfaces |
平井光博(群馬大） |
| 14:40 〜 15:10 | 埋もれた界面の反応について Group A03: Reaction at Buried Interfaces |
桜井健次（NIMS) |
| 15:10 〜 15:30 | 休憩（コーヒーブレーク） | |
| （午後の座長２) 竹田美和 | ||
| 15:30 〜 15:50 | 定在波を用いた内殻吸収ＭＣＤによる磁性多層膜界面の研究 | 柳原美広（東北大） |
| 15:50 〜 16:30 |
規則合金系積層構造におけるスピントロニクス機能と界面の役割 Spintronic properties of ordered alloy-based layered structures and the role of interfaces |
高梨弘毅（東北大) |
| 16:30 〜 17:10 |
光で見る強相関酸化物の埋め込まれた界面磁性 Optical Detection of Buried Interface-Magnetism in Correlated Electron Oxides |
川崎雅司（東北大) |
| 17:10 〜 17:30 | 休憩（会場準備） | |
| 17:40 〜 19:30 | 懇親会 （立食パーティ、東北大金研内） | |
| （夜の討論企画の座長) 桜井健次 | ||
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話題提供 （５分講演+無制限討論） 1)新しい実験・装置技術およびデータ解析技術 2) 新しい応用分野 |
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| 19:30 〜 22:00 |
1.
脂質膜界面の構造・相互作用に対する重水効果 Heavy water effect on the structure and interactions at lipid membrane interface region |
高橋浩（群馬大） |
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2. 埋もれた界面の化学反応を利用した電子デバイスへのＸ線反射率測定の応用 Application of x-ray reflectivity measurement to electronic devices using chemical reaction at 'buried' interface） |
石井真史（NIMS） | |
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3.
平行な白色高エネルギーＸ線を用いたμ- ＆ quick- 反射率実験 Quick reflectometry with parallel micro beam from white high-energy synchrotron source |
水沢まり（NIMS） | |
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4.
GISAXSを用いた表面ナノ粒子の形状およびサイズ分布評価 Characterization of shape and size distribution of surface nano-particles by grazing incidence small angle X-ray scattering |
伊藤義泰(リガク) | |
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5.
ラフトモデル膜の水の透過のX線・中性子散乱法による研究 Permeability water through Raft model membrane clarified by X-ray & neutron scattering |
小内輝明 (群馬大平井研D2) | |
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6.
両親媒性ブロック共重合体多層膜の反射率測定による解析 Structure analysis of amphiphilic di-block copolymer multilayer by X-ray reflectivity |
山田武、鄭先玲 （首都大学東京 吉田研） | |
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7.
コヒーレントＸ線回折顕微法による金属材料のナノ組織解析 Nanostrucutral analysis of metallic materials by coherent x-ray diffraction microcsopy |
高橋幸生 (阪大) | |
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8.
液液界面における全反射XAFS法の開発 Development of Total-Reflection XAFS at Liquid-Liquid Interface |
谷田 肇(JASRI/SPring-8) | |
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9. Pt/AlN多層薄膜の熱処理時の界面安定性と集合組織の発達 Interface stability and development of texture during thermal annealing in Pt/AlN multilayered films |
春本高志(東工大中村研M1) | |
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10. Ｘ線回折による有機分子薄膜P3HT:PCBMの構造評価 Structural study of P3HT:PCBM thin film by X-ray diffraction |
久保田正人(KEK) | |
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11. Ｘ線反射率の高速測定法の開発−彎曲結晶ポリクロメーターを用いた新しい方法− Development of a high speed X-ray reflectometer - a new approach utilizing a curved crystal polychromator - |
松下正(KEK) | |
| 講評コメント | 水木純一郎（原子力機構） | |
| ２００７年７月２４日（火） | ||
| （午前の座長) 平井光博 | ||
| 09:00 〜 09:40 | 貧溶媒と接した高分子の膨潤状態 Swollen States of Polymers Contacted with Non-Solvents |
田中敬二（九大） |
| 09:40 〜 10:00 | タンパク質の気水界面吸着過程のその場XR観察 In-situ X-ray reflection study on globular proteins adsorbed at the air/water interface |
矢野陽子(立命館） |
| 10:00 〜 10:20 | 斜入射X線回折法による有機色素単分子膜の構造解析 | 加藤徳剛(明治大） |
| 10:20 〜 10:40 | 休憩（コーヒーブレーク） | |
| 10:40 〜 11:00 |
GIXDによる有機半導体薄膜の成長初期過程の観察 Observation of initial stage of crystal growth in semiconducting organic thin films by GIXD |
吉本則之（岩手大） |
| 11:00 〜 11:20 |
気/水界面でのラフト脂質単分子膜における分子配列の評価 Evaluation of molecular arrangement in Raft-Lipid monolayers at the air/water Interface |
飯村兼一（宇都宮大） |
| 11:20 〜 11:40 |
反射率法による複合高分子薄膜の界面構造観察 Interfacial structure of complicated self-assembled polymer thin film by reflectometry observation |
鳥飼直也（KEK） |
| 11:40 〜 12:00 |
白色X線を用いたX線反射率及び導波路現象の観測 Observations of X-ray reflectivity and waveguide phenomenon using white X-rays |
林好一（東北大） |
| 12:00 〜 13:30 | 昼食休憩 | |
| （午後の座長) 林好一 | ||
| 13:30 〜 14:10 |
塑性加工湾曲半導体結晶によるX線光学素子の可能性 Assessment of plastically deformed semiconductors and their application to optical components for X-ray scattering/diffraction |
奥田浩司（京大） |
| 14:10 〜 14:30 | X線CTR散乱法で解析するInP/GaInAs界面形成過程 Formation process of InP/GaInAs interface analyzed by X-ray CTR scattering measurement |
田渕雅夫（名大） |
| 14:30 〜 14:50 |
High-k材料の界面ナノ構造の精密解析 Structural evaluation of Hafnium oxide/silicon interfaces by using GIXR and XPS |
藤本俊幸（産総研） |
| 14:50 〜 15:10 |
Ｘ線超小角散乱による表面ナノ加工構造の評価 Grazing incidence ultra-small angle X-ray scattering for evaluating nano-fabricated surface structures |
表和彦（リガク） |
| 15:10 〜 15:30 | FeCo/Pd超格子膜のＸ線共鳴磁気反射率について X-ray resonant magnetic reflectivity of [FeCo/Pd]n super-lattice films |
淡路直樹(富士通） |
| 15:30 〜 15:50 |
Ｘ線マイクロビームを用いた反射率及び反射小角散乱測定に関する検討 The trial of X-ray reflectivity and GISAXS by X-ray microbeam |
高田一広(キヤノン） |
| 15:50 〜 16:10 | 講評 |
菊田惺志（東大名誉教授） 原田仁平（名大名誉教授） |
| 16:10 〜 | Closing | |