'Buried' Interface Science with X-rays and Neutrons 2009 埋もれた界面のＸ線・中性子解析に関するワークショップ2009
２００９年７月１３日（月）
09:50 〜 10:00	Introductory Talk	桜井健次（物材機構）
（午前の座長１)　桜井健次
10:00 〜 10:40	複数層から構成される半導体ナノドット構造からのGISAXSの解析 GISAXS analysis on semiconductor nanodots in multilayerd structures	奥田浩司（京都大学）
（午前の座長２)　奥田浩司
10:40 〜 11:20	X線異常分散を利用した GISAXS によるGaAsに よりキャップされたInAsナノドットの形状測定 "GISAXS study of InAs nanodots caped by GaAs utilizing anomalous scattering effect	表和彦（リガク）
11:20 〜 12:00	時分割X線反射率測定によるタンパク質の気液界面吸着ダイナミクスの観測 Time-resolved X-ray reflectivity study on a protein adsorbed at an air/water interface	矢野陽子（立命館大学）
12:00 〜 13:30	昼食休憩（90分）
（午後の座長１)　竹田美和
13:30 〜 14:10	原子層堆積／原子層成長による「水の窓」軟X線酸化物多層膜ミラーの開発 Development of novel oxide multilayer mirrors at "water- window" wavelengths by atomic layer deposition / atomic layer epitaxy	熊谷寛(大阪市大）
14:10 〜 14:30	X線の位相計測によるシリコン酸化膜およびシリコン窒化膜／シリコン界面下のひずみの測定 Strain fields under the SiO_2/Si and Si_3N_4/Si interfaces revealed by a multiple X-ray diffraction phenomenon	矢代航（東大新領域）
14:30 〜 14:50	X線反射率によるPd基アモルファス合金薄膜の結晶化温度測定 Measurement of crystallization temperature of Pd-based amorphous alloy thin films by X-ray reflectivity	山本篤史郎（東北大金研）
14:50 〜 15:10	休憩（コーヒーブレーク）
（午後の座長２)　矢野陽子
15:10 〜 15:50	InP/GaInAs/InPヘテロ構造におけるAs原子蓄積過程の検討 Study on accumulation process of As atoms in InP/ GaInAs/InP hetero structures	竹田美和（名大）
15:50 〜 16:10	硬X線光電子分光法によるステンレス表面に形成した不動態皮膜の非破壊分析 Non-destructive analysis on passivation film formed on stainless steel surface using hard X-ray photoelectron spectroscopy.	高橋真（コベルコ科研）
16:10 〜 16:30	冷中性子干渉・反射実験ポートMINE MINE as a test port for cold neutron interferometry and reflectometry	日野正裕（京大原子炉）
16:30 〜 16:50	Stability of surface and interfaces of temperature-responsive thin films	Vallerie Samson Ann （筑波大）
16:50	別会場への移動
17:20 〜 19:00	懇親会 （立食パーティ）
（夜の討論企画の座長)　矢代航
	話題提供 （５分講演+無制限討論） 1)新しい実験・装置技術およびデータ解析技術 2) 新しい応用分野
19:00 〜 21:00	1. ヨハンソン分光結晶を用いたX線CTR散乱測定装置の開発 Development of new X-ray CTR scattering measurement system using Johansson monochromator	田渕雅夫（名大）
	2. 酸化タングステンにおけるエレクトロクロミズムおよび導電現象	佐藤龍二 (NHK)
	3. レーザーによる薄膜改質の試みと薄膜・界面構造のＸ線反射率による評価	香野淳（福岡大）
近くのビルの有料会議室をレンタルした関係上、終了時間が決まっております。ですので、少なくとも開始時間を厳守したいと思っています。	4. InSb系合金のRMC解析	谷克彦（リコー）
	5. X線光子相関法によるソフト界面の特性解析 X-ray Photon Correlation Spectroscopy for Soft Interface characterization	星野大樹(ERATO高原プロジェクト)
	6. 放射光を利用したトバモライト生成過程のその場X線回折 In-situ X-ray Diffraction Analysis on Formation of Tobermorite using Synchrotron X-ray	松野信也（旭化成）
	7. J-PARCに計画中の偏極中性子反射率計の基本性能 The concept of the polarized neutron reflectometer designed for J-PARC	武田全康（原子力機構）
	8. イオン散乱とX線反射率法を利用した薄膜評価 Rutherford backscattering spectrometry and x-ray reflectivity study of thin films	北原周（コベルコ科研）
２００９年７月１４日（火）
（午前の座長)　桜井健次
09:40 〜 11:20	理論研究者との交流
	界面科学への理論的アプローチ	塚田捷（東北大WPI-AIMR）
	Defect formation in Si and ZnSe/GaAs epitaxy	中山隆史（千葉大）
	ナノスケールの界面科学の新展開（理論的側面から）」	白石賢二（筑波大）
11:20 〜 12:00	BL13XUの最近の現状 Current status of user researches at SPring-8　BL13XU	坂田修身（JASRI）
12:00 〜 13:30	昼食休憩
（午後の座長１)　川村朋晃
13:30 〜 14:10	液中ダイナミックモード原子間力顕微鏡による局所溶媒和の構造解析 Local Solvation Structures Investigated by Dynamic Force Microscopy	木村建次郎(神戸大)
14:10 〜 14:30	X線導波現象の薄膜高次構造リアルタイム観測への応用 Application to real time observation of film structure using X-ray waveguide phenomenon	林好一（東北大金研）
（午後の座長２)　林好一
14:30 〜 15:10	中性子反射率測定を用いたソフトインターフェースの表面・界面構造解析 Surface and Interface Analyses of Soft Interfaces by Neutron Reflectivity	高原淳（九州大学）
15:10 〜 15:30	高繰り返しフェムトレーザーを用いたHe雰囲気下フェムト秒X線源の開発 「Development of femtosecond X-ray source in helium atmosphere with millijoule high-repetition-rate femtosecond laser	羽田真毅（京大）
15:30 〜 15:50	中性子反射率法による表面／潤滑油界面の構造解析とそのトライボロジー特性 Structure of Solid-Liquid Interface Analyzed by Neutron Reflectometry and Its Effect on Tribological Properties	平山朋子（同志社）
15:50 〜	Closing