Buried Interface Science with X-rays and Neutrons 2010
埋もれた界面のX線・中性子解析に関するワークショップ2010
 
2010年7月25日(日)
14:00  開場
  討論企画
「埋もれた界面」と「X線(中性子)」と「理論」の接点
 
15:00 〜 15:05 Introductory Talk 桜井健次(物材機構)
15:05 〜 15:35 「界面現象における最近の理論研究の話題 」 (30分) 塚田捷(東北大WPI-AIMR)
13:35 〜 16:05 「第一原理シミュレーションによる有機/金属界面における界面電気二重層の研究」 (30分)
森川 良忠(阪大)
16:05 〜 16:35 「界面近傍の溶液の大域構造」
Global Structure of Aqueous Solution at the Interfacial Region (30分)
赤木和人(東北大)
16:35 〜 17:30 総合討論 
1. 何がまだわからないか
2. X線(中性子)」から見た「理論」のニーズ
3. 「理論」から見た「X線(中性子)」のニーズ
4. 共同研究の提案の可能性

 

 
     
17:30 〜 懇親会  
2010年7月26日(月)
08:50 〜 9:00 Introductory Talk 桜井健次(物材機構)
(午前の座長1) 桜井健次(物材機構)
9:00 〜 9:40 「GaN系半導体のMOVPE成長とその場X線測定」 竹田美和(名大)
9:40 〜 10:20 「量子ビームを用いたソフト界面の特性解析」 高原淳(九大)
10:20 〜 10:40 休憩(コーヒーブレーク)  
(午前の座長2) 奥田浩司(京大)
10:40 〜 11:20  「X線光子相関分光を用いたナノスケールのダイナミクス解析」 篠原佑也(東大)
11:20 〜 12:00 「X線回折による周期ナノ構造の断面イメージング」 表和彦(リガク)
12:00 〜 13:30 昼食休憩(90分)  
(午後の座長1) 田渕雅夫(名大)
13:30 〜 14:10  「埋もれた界面のひずみ解析」
Strain analysis of buried interface
秋本晃一.(名大)
14:10 〜 14:50 「埋もれた・埋もれていない半導体界面の構造と電子物性」
Structures and electronics of buried and unburied semiconductor interfaces
神谷格(豊田工大)
(午後の座長2) 竹田美和(名大)
14:50 〜 15:10 「ヨハンソン分光結晶を用いたX線CTR散乱測定装置」 田渕雅夫(名大)
15:10 〜 15:30 休憩(コーヒーブレーク)  
15:30 〜 16:10 「非線形振動分光を用いた埋もれた界面探査 -固/液界面から液/液界面まで」 大内幸雄(名大)
16:10 〜 16:50 「X線反射率法における精度の良い表面界面粗さ解析法の提案」 藤居義和(神戸大)
16:50 〜 17:00 休憩  
17:00 〜 18:30  懇親会 (同じ会場にて立食パーティ)  
(夜の討論企画の座長) 桜井健次(物材機構)
  話題提供 (5分講演+無制限討論)
1)新しい実験・装置技術およびデータ解析技術
2) 新しい応用分野
 
18:30 〜 21:00 1. 「ソフト界面におけるX線光子相関分光測定装置の設計」 星野大樹(ERATO高原ソフト界面/理研播磨)
  2. 「時間分解X線回折法を用いたVO2薄膜の構造ダイナミクスの評価」
Characterization of structural dynamics of VO2 film using in-air time-resolved X-ray diffraction
羽田真毅(京大)
  3.  「J-PARC/BL16高性能試料水平型中性子率計の開発」 御田村紘志(ERATO高原ソフト界面)
  4. 「TiO2/SiO2 界面のスパッタ接合」 多賀康訓(中部大)
  5. 「共鳴軟X線散乱によるSrTiO3/LaAlO3界面の電子状態の観測」
Electronic structure of the SrTiO3/LaAlO3 interface
revealed by resonant soft x-ray scattering
和達大樹(東大工)
  6. 「過冷却状態から急速凝固する表面のX線反射率」
X-ray reflectivity studies on rapidly freezing surface of super-cooled liquid 
水沢まり(NIMS)
  7.  
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  13.  
  14.  
     
 
2010年7月27日(火)
(午前の座長) 矢代航(東大)
9:00 〜 9:40 「ソリューションプラズマにおける界面」 高井治(名大)
9:40 〜 10:20 「時々刻々の変化を追う蛍光X線イメージングとX線反射率法」
Time-resolved X-ray analysis : X-ray fluorescence imaging and X-ray reflectometry
桜井健次(物材機構)
10:20 〜 10:40 休憩(コーヒーブレーク)  
(午前の座長2) 香野淳(福岡大)
10:40 〜 11:20  「軟X線共鳴GISAS法の最近の結果と課題」
Resonant GISAXS in soft-X region : recent progress.
奥田浩司(京大)
11:20 〜 11:40  「中性子反射率法によるブロック共重合体薄膜中への
選択溶媒の浸透深さのその場観測」
鳥飼直也(三重大)
11:40 〜 12:00 「X線反射率測定によるPd基非晶質金属薄膜の結晶化その場観察」
In-situ observation of crystallization of Pd based metallic glass thin films by X-ray reflectivity
林好一(東北大)
12:00 〜 13:30 昼食休憩(90分)  
(午後の座長) 林好一(東北大)
13:30 〜 13:50 「J-PARCの新反射率計について」 武田全康(JAEA)
13:50 〜 14:10 「SAGA-LSの現状と埋もれた界面研究への応用」 隅谷和嗣(SAGA-LS)
14:10 〜 14:30 「Ge-core/Si量子ドットのX線反射率・GISAXS解析と物性評価」 香野淳(福岡大)
14:30 〜 14:50 「異常分散利用2波長差分反射率法によるフーリエ変換積層構造解析法の検討」 上田和浩(日立)
14:50 〜 15:10 「X線Talbot干渉計におけるビジビリティコントラス
トの定量解析とGISAXSへの応用可能性について」
矢代航(東大)
15:10 〜  Closing