Buried Interface
Science with X-rays and Neutrons 2010 埋もれた界面のX線・中性子解析に関するワークショップ2010 |
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2010年7月25日(日) | ||
14:00 開場 | ||
討論企画 「埋もれた界面」と「X線(中性子)」と「理論」の接点 |
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15:00 〜 15:05 | Introductory Talk | 桜井健次(物材機構) |
15:05 〜 15:35 | 「界面現象における最近の理論研究の話題 」 (30分) | 塚田捷(東北大WPI-AIMR) |
13:35 〜 16:05 | 「第一原理シミュレーションによる有機/金属界面における界面電気二重層の研究」 (30分) |
森川 良忠(阪大) |
16:05 〜 16:35 |
「界面近傍の溶液の大域構造」 Global Structure of Aqueous Solution at the Interfacial Region (30分) |
赤木和人(東北大) |
16:35 〜 17:30 |
総合討論 1. 何がまだわからないか 2. X線(中性子)」から見た「理論」のニーズ 3. 「理論」から見た「X線(中性子)」のニーズ 4. 共同研究の提案の可能性
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17:30 〜 | 懇親会 | |
2010年7月26日(月) | ||
08:50 〜 9:00 | Introductory Talk | 桜井健次(物材機構) |
(午前の座長1) 桜井健次(物材機構) | ||
9:00 〜 9:40 | 「GaN系半導体のMOVPE成長とその場X線測定」 | 竹田美和(名大) |
9:40 〜 10:20 | 「量子ビームを用いたソフト界面の特性解析」 | 高原淳(九大) |
10:20 〜 10:40 | 休憩(コーヒーブレーク) | |
(午前の座長2) 奥田浩司(京大) | ||
10:40 〜 11:20 | 「X線光子相関分光を用いたナノスケールのダイナミクス解析」 | 篠原佑也(東大) |
11:20 〜 12:00 | 「X線回折による周期ナノ構造の断面イメージング」 | 表和彦(リガク) |
12:00 〜 13:30 | 昼食休憩(90分) | |
(午後の座長1) 田渕雅夫(名大) | ||
13:30 〜 14:10 |
「埋もれた界面のひずみ解析」 Strain analysis of buried interface |
秋本晃一.(名大) |
14:10 〜 14:50 |
「埋もれた・埋もれていない半導体界面の構造と電子物性」 Structures and electronics of buried and unburied semiconductor interfaces |
神谷格(豊田工大) |
(午後の座長2) 竹田美和(名大) | ||
14:50 〜 15:10 | 「ヨハンソン分光結晶を用いたX線CTR散乱測定装置」 | 田渕雅夫(名大) |
15:10 〜 15:30 | 休憩(コーヒーブレーク) | |
15:30 〜 16:10 | 「非線形振動分光を用いた埋もれた界面探査 -固/液界面から液/液界面まで」 | 大内幸雄(名大) |
16:10 〜 16:50 | 「X線反射率法における精度の良い表面界面粗さ解析法の提案」 | 藤居義和(神戸大) |
16:50 〜 17:00 | 休憩 | |
17:00 〜 18:30 | 懇親会 (同じ会場にて立食パーティ) | |
(夜の討論企画の座長) 桜井健次(物材機構) | ||
話題提供 (5分講演+無制限討論) 1)新しい実験・装置技術およびデータ解析技術 2) 新しい応用分野 |
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18:30 〜 21:00 | 1. 「ソフト界面におけるX線光子相関分光測定装置の設計」 | 星野大樹(ERATO高原ソフト界面/理研播磨) |
2. 「時間分解X線回折法を用いたVO2薄膜の構造ダイナミクスの評価」 Characterization of structural dynamics of VO2 film using in-air time-resolved X-ray diffraction |
羽田真毅(京大) | |
3. 「J-PARC/BL16高性能試料水平型中性子率計の開発」 | 御田村紘志(ERATO高原ソフト界面) | |
4. 「TiO2/SiO2 界面のスパッタ接合」 | 多賀康訓(中部大) | |
5. 「共鳴軟X線散乱によるSrTiO3/LaAlO3界面の電子状態の観測」 Electronic structure of the SrTiO3/LaAlO3 interface revealed by resonant soft x-ray scattering |
和達大樹(東大工) | |
6. 「過冷却状態から急速凝固する表面のX線反射率」 X-ray reflectivity studies on rapidly freezing surface of super-cooled liquid |
水沢まり(NIMS) | |
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2010年7月27日(火) | ||
(午前の座長) 矢代航(東大) | ||
9:00 〜 9:40 | 「ソリューションプラズマにおける界面」 | 高井治(名大) |
9:40 〜 10:20 |
「時々刻々の変化を追う蛍光X線イメージングとX線反射率法」 Time-resolved X-ray analysis : X-ray fluorescence imaging and X-ray reflectometry |
桜井健次(物材機構) |
10:20 〜 10:40 | 休憩(コーヒーブレーク) | |
(午前の座長2) 香野淳(福岡大) | ||
10:40 〜 11:20 |
「軟X線共鳴GISAS法の最近の結果と課題」 Resonant GISAXS in soft-X region : recent progress. |
奥田浩司(京大) |
11:20 〜 11:40 |
「中性子反射率法によるブロック共重合体薄膜中への 選択溶媒の浸透深さのその場観測」 |
鳥飼直也(三重大) |
11:40 〜 12:00 |
「X線反射率測定によるPd基非晶質金属薄膜の結晶化その場観察」 In-situ observation of crystallization of Pd based metallic glass thin films by X-ray reflectivity |
林好一(東北大) |
12:00 〜 13:30 | 昼食休憩(90分) | |
(午後の座長) 林好一(東北大) | ||
13:30 〜 13:50 | 「J-PARCの新反射率計について」 | 武田全康(JAEA) |
13:50 〜 14:10 | 「SAGA-LSの現状と埋もれた界面研究への応用」 | 隅谷和嗣(SAGA-LS) |
14:10 〜 14:30 | 「Ge-core/Si量子ドットのX線反射率・GISAXS解析と物性評価」 | 香野淳(福岡大) |
14:30 〜 14:50 | 「異常分散利用2波長差分反射率法によるフーリエ変換積層構造解析法の検討」 | 上田和浩(日立) |
14:50 〜 15:10 |
「X線Talbot干渉計におけるビジビリティコントラス トの定量解析とGISAXSへの応用可能性について」 |
矢代航(東大) |
15:10 〜 | Closing | |