埋もれた界面のＸ線・中性子解析に関するワークショップ2010

主催

（社）応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析研究会
独立行政法人物質・材料研究機構　量子ビームセンター

趣旨

ナノサイエンス・ナノテクノロジーの研究開発においては、何がしかの物質によって覆われた「埋もれた界面」を扱う必要があります。そこでは、非破壊的な研究手法であるＸ線・中性子反射率法および回折・散乱・分光技術が有用と考えられますが、現代の未解決問題に対応するためには、大幅な技術水準の引き上げを伴う高度化を達成することが必須の課題となっています。最近、迅速・ライブ計測、微小領域分析・ビジュアリゼーション（可視化）、新たな情報の質の獲得等の点での高度化が進んでおり、特に、Ｘ線技術については、高輝度シンクロトロン放射光源等の先端研究施設を用いた進展には目覚ましいものがあります。他方、わが国では、大強度陽子加速器施設J-PARCの物質・生命科学実験施設が2008年にパルス中性子の発生に成功しており、今後の新しい展開が期待されています。そして、こうした実験技術の進歩を実際の埋もれた界面研究に生かすために、理論的な研究との交流がこれまでになく重要になりつつあります。本ワークショップは、Ｘ線と中性子、実験と理論、あるいは半導体・電子材料からソフトマテリアル、バイオシステムに至る異なる応用分野間の交流を通し、埋もれた界面の諸問題の新たな解決との糸口を探ろうとするものであります。

協賛協力

（社）日本化学会 、（社）日本物理学会、（社）日本分析化学会、（社）化学工学会、（社）高分子学会、
（社）日本油化学会、（社）レーザー学会、（社）精密工学会、（社）電気化学会、（社）電子情報通信学会、（社）日本材料学会、（社）日本磁気学会、（社）日本鉄鋼協会、（社）日本表面科学会、ナノ学会、触媒学会、錯体化学会、日本放射光学会 、分子科学会、SPring-8、東京大学物性研究所、（独）科学技術振興機構

プログラム

プログラム

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日時

２０１０年７月２５日（日）〜２７日(火)

場所

名古屋大学ベンチャービジネスラボラトリ
(〒464-8603 名古屋市千種区不老町　電話： 052-789-5447(事務室)）
http://www.vbl.nagoya-u.ac.jp/ (VBL のホームページ)
http://www.vbl.nagoya-u.ac.jp/access/index.html (アクセスに情報)
　

ワークショップは３日とも VBL 3F ベンチャーホールにて開催します。無線ＬＡＮも使用可能です。
　

招待状

参加出席、出張等のための各種の手続きに正式招待状が必要な方はおっしゃってください。

分量は2ページ以上、ご自由に、またタイトルや内容もご講演のものと同じでも、まったく異なっていても構いません 。ぜひ皆様の最近の研究活動の一端（あるいは将来に向けた計画、構想、提案等もＯＫ、理論的な内容の原稿や、既発表データをまとめ直したショートレヴュー的色彩の原稿も構いません）を記録に残して頂けるよう、お願いいたします。 ２報以上のご投稿も歓迎いたします。なお、査読は編集委員会において実施いたします。

フォーマットは、IＯP のテンプレート（右クリック、「対象をファイルに保存」）をご利用の上、キャメラレディの形でご提出願います（ 英国 IOP にはPDF ファイルで提出することになりますが、まずはワードのファイルを受付にお出しください。見本（右クリック、「対象をファイルに保存」）もご参照ください。）。今回、ページ数の制限は設けておりません（過去の実績から平均４ページくらいかと想像しておりますが、多くても少なくても差し支えありません）。印刷物はモノクロ印刷として出版・製本されますので、ご考慮ください。ただし、 オンライン・電子版およびＣＤはカラー印刷が可能です。

締切りは、７月25日（日）〜27日（火）、会場にてご提出をお願いします。ただし、やむを得ないご事情のある方は事前のご相談 により、約１０日ほどお待ちすることも可能です。大幅に遅らせることはできませんので、よろしくご協力のほど、お願いいたします。

ワークショップにてご講演（話題提供の方も含む）の方は、ぜひとも１件以上のご執筆をお願いします。タイトルはご講演タイトルと完全に同じでなくて構いません。 さらに、ご講演なさらない場合でも、参加者の方のご執筆も歓迎いたしております。

懇親会

７月２５日（日） 午後６時〜　　（討論企画の終了後、まとまって徒歩で向かいます）
「風来坊」
〒464-0036 名古屋市千種区本山町4-69 アビタシオン本山1F
電話番号 ： （052）751-3339
http://www.furaibou.com/t_8_motoyama.htm

７月２６日（月）午後５時〜６時半
ワークショップ会場にて

参加申込み

問い合わせ

独立行政法人物質・材料研究機構
量子ビームセンター 放射光解析グループ　
桜井健次

TEL 029-859-2821  FAX 029-859-2801
e-mail sakurai@yuhgiri.nims.go.jp

（ワークショップの歴史）

2010年03月　シンポジウム「Ｘ線による埋もれた固液界面の精密科学の可能性」（応用物理学会、東海大）
2009年07月　「埋もれた界面のＸ線・中性子解析に関するワークショップ2009」（筑波大秋葉原キャンパス）
2009年03月　シンポジウム「Ｘ線・中性子による埋もれた界面研究の最前線」（応用物理学会、筑波大）
2007年12月　日本ＭＲＳシンポジウム「Ｘ線・中性子による埋もれた界面の解析 − 微小領域分析およびquick 計測によるナノサイエンス・テクノロジーへの展開に期待する」（日本大学）
2007年09月　シンポジウム「Ｘ線・中性子による quick 反射率法の展望 - 表面や埋もれたナノ構造の変化を追う(III)」（応用物理学会、北海道工大）
2007年07月　「埋もれた界面のＸ線・中性子解析に関するワークショップ2007」（東北大金研）
2006年12月　日本ＭＲＳシンポジウム「量子ビームによる埋もれた界面の解析　−半導体・電子材料からソフトマテリアルまで」（日本大学）
2006年08月　シンポジウム「Ｘ線・中性子による quick 反射率法の展望 - 表面や埋もれたナノ構造の変化を追う(II)」（応用物理学会、立命館）
2006年07月　「埋もれた界面のＸ線・中性子解析に関するワークショップ2006」（マルコーイン横浜）
2005年03月　シンポジウム「Ｘ線・中性子による quick 反射率法の展望 - 表面や埋もれたナノ構造の変化を追う(I)」（応用物理学会、埼玉大）
2004年07月　ＰＦ・ＫＥＮＳ合同研究会「ナノサイエンス・テクノロジーと放射光・中性子反射率法」（KEK、つくば市）
2003年07月　「Ｘ線・中性子による薄膜ナノ構造および埋もれた界面の先端解析技術に関するワークショップ」（名大）
2002年09月　シンポジウム「Ｘ線中性子線反射率/散乱法による薄膜・多層膜の構造研究の新展開」 （応用物理学会、新潟大）
2001年12月　ＰＦ研究会「Ｘ線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析」（KEK、つくば市）

（これまでの出版物）

J. Phys. Cond. Matter., special volume for Buried Interface Science with X-rays and Neutrons (to be published in 2010)
Trans MRS Japan, Vol.34, No.4 (2009).
「Ｘ線反射率法入門」（講談社 2009)
Trans MRS Japan, Vol.33, No.3 (2008).
J. Phys. Conf. Ser., Vol.83 (2007). http://www.iop.org/EJ/toc/1742-6596/83/1
Trans MRS Japan, Vol.32, No.1 (2007).
平成１８年度科研費基盤研究（Ｃ）「Ｘ線・中性子解析による「埋もれた」界面の科学に関する調査」報告書（http://www.nims.go.jp/xray/lab/hot/kaimen.pdf）
KEK Proceedings, 2006-3, 'Buried Interface Science with X-rays and Neutrons' (2006).
KEK Proceedings, 2004-5, 「ナノサイエンス・テクノロジーと放射光/中性子反射率」 (2004).
Trans MRS Japan, Vol.28, special issue (2003).
KEK Proceedings, 2001-25, 「Ｘ線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析」 (2002).