製造業の分析の現場や研究開発の現場で、日々お仕事をなさっておられる技術者、開発者の皆様へ。

X線分析に関心をお持ちの皆様へ。

2021年４月から「X線反射率による薄膜・多層膜の解析」と「X線による元素動画イメージング技法」のオンライン研修(有料)を開始しております。ご参加の皆様には、講師が32年にわたって研究室メンバーや大学院生を指導してきた経験をお伝えし、どなたにも「参加してよかった」「有意義だった」と言って頂けるように、最善を尽くす所存です。皆様のお一人お一人が、それぞれのご所属の会社等において、X線分析のエキスパートしてご活躍頂けるよう、少しでもお手伝いができれば、と願っております。

スケジュール(2021~2022)

1. X線反射率による薄膜・多層膜の解析

Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、密度、各界面のラフネス等を非破壊的に解析できる解析技術です。入門編、中級編をお選び頂けます。入門編ではまったく経験のない方でも、知識、技術を習得できるよう、懇切丁寧に解説いたしております。中級編は入門編をご受講済みの方を対象といたしております。いずれも講義は各回少人数で行われ、入門編は4コマ、中級編は3コマから成り立ち、1カ月で完結します。X線反射率法による解析では30年以上の経験を有し「新版Ｘ線反射率法入門」（講談社2018年刊）の編著者でもある講師が、講義・演習・質疑応答を担当します。

桜井健次編著、「新版 X線反射率法入門」講談社（2018年）

カリキュラム（入門編）
第1コマ　X線反射率測定・実験の実際　　　　60分
第2コマ　X線反射率シミュレーションの実際　60分
第3コマ　X線反射率データ解析の実際　　　　60分
第4コマ　X線反射率による薄膜・多層膜の解析のマン・ツー・マンセッション　30分　

カリキュラム（中級編）
第1コマ　X線反射率の高度な測定技術　　　　80分
第2コマ　X線反射率の高度なデータ解析　　　80分
第3コマ　X線反射率による薄膜・多層膜の解析のマン・ツー・マンセッション　30分　

演習問題や、データ、ソフトウエアなど講義資料を事前配布します。良い効果があがるよう、事前配布資料をお目通しいただける余裕の時間を考慮しております。演習の答え合わせは、講義の終了後に行います。また講義の後には、どのようなご質問にもその場でお答えいたします。

終了後、演習の解答や復習に有用な教材も配布いたします。また受講証明書を発行します。

マン・ツー・マンセッションでは、講義で十分に触れることのできなかった内容や、御社の実際のお仕事で具体的に課題になっている点につき、最も有用と信じられるようなご助言をさせて頂きます。秘密保持契約の締結が必要な内容にもご相談に応じます。

申し込み方法
下記Webページにて、お申し込みください。
折り返し、詳細なご案内の連絡をさせて頂きます。事前のご相談、お問い合わせも歓迎いたします。
http://xray-neutron-buried-interface.jp/OnlineXRRapplication.html
本イベントの紹介は、下記からもダウンロードできます。
http://xray-neutron-buried-interface.jp/ReflectivityOnline.pdf

2. X線による元素動画イメージング技法

不均一な試料の元素の分布を非破壊的にスナップショット可視化し、さらに時々刻々の変化を動画撮像することが、最新のX線イメージングの技術により可能になっています。この研修では、実験室系のX線源と市販されているCCD/CMOSカメラを用い、試料のXY走査を行うことなく元素別の分布画像を取得する手法について、懇切丁寧に解説します。これまで元素のスナップショットや動画撮像は報告が少なく、元素イメージングと言えばXY走査という常識の壁もあり、ほとんど知られていませんでした。いったいどうすれば、それはできるのか。具体的に何と何をどのように準備し、どのような工夫を行う必要があるのか。研究開発や製造や分析の現場で実際に使えるようにするための知識、技術、ノウハウを学ぶことができます。皆様のお手元でこうしたイメージングを行えるようになるよう、講師がお手伝い致します。

カリキュラム
第1コマ　 スナップショットおよび動画元素イメージング技術 60分
第2コマ　要素技術の詳細　　　　　　 　　　　　　　　　 80分
第3コマ　マン・ツー・マンセッション　　　　　 　　　　 20分

第１コマではイメージングの意義・重要性、スナップショットおよび動画イメージングの事例、撮像原理と機器構成について解説します。第２コマでは結像光学系、2次元検出器、画像処理技術について解説します。第３コマでは機器組み立てのご相談、ご質問などにお答えします。秘密保持契約の締結が必要な内容にもご相談に応じます。

申し込み方法
下記Webページにて、お申し込みください。
折り返し、詳細なご案内の連絡をさせて頂きます。事前のご相談、お問い合わせも歓迎いたします。
http://xray-neutron-buried-interface.jp/OnlineXRFimagingApplication.html
本イベントの紹介は、下記からもダウンロードできます。
http://xray-neutron-buried-interface.jp/XRFimagingOnline.pdf

講師紹介

桜井健次　（さくらいけんじ）
東京大学大学院修了、工学博士。イメージング物理研究所 所長。元 （国）物質・材料研究機構 上席研究員(32年間勤務、定年退職)、元 筑波大学大学院教授（16年間兼務、「X線物理学入門」を講義、現在は筑波大学数理物質系名誉連携教授）。「X線反射率による薄膜・多層膜の解析」講習会を2007年～2020年、9回にわたって主催。編著書として「新版Ｘ線反射率法入門」(講談社2018年）、「リファレンスフリー蛍光X線分析入門」（講談社2019年）

イメージング物理研究所とは

イメージング物理研究所は材料工学とイメージング物理の研究を行う私立研究所です。外部からのコンサルティング・教育研修のリクエストに応えるとともに、将来は独自技術を応用した機器等の製造や、海外の優れた知識・技術・製品の普及の支援等を行い、わが国の産業と社会の発展に貢献します。

・研究・調査 （新イメージング・可視化技術、X線・中性子計測）
・コンサルティングサービス（工業分析、環境分析、セキュリティ、品質管理）
・教育研修（X線分析技術）
・受託分析、受託調査、受託研究
・レーザー加工の受託（マイクロピンホールなど）
・特注計測機器の設計・製作の支援
・科学ソフトウエアの提供
・その他（少量化学物質サンプル、科学教育アイテム等）

連絡先

イメージング物理研究所 　桜井健次研究室
inquiry@sakuraixlab.com