2020年3月31日

第9回講習会「X線反射率法による薄膜・多層膜の解析」(11月26日(木)飯田橋) -

3月2日に第8回講習会を実施したばかりですが、やむなく欠席された皆様へのサポートも兼ね、第9回講習会を11月に東京都内で開催いたします。ぜひ周囲の皆様にお勧めください。

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第9回講習会「X線反射率法による薄膜・多層膜の解析」
http://xray-neutron-buried-interface.jp/TutorialXRR2020.pdf

主催 (公社)応用物理学会 埋もれた界面のX線・中性子解析研究会
http://xray-neutron-buried-interface.jp/

日時 2020年11月26日(月)9:30~16:40
場所 飯田橋レインボービル 2C会議室
(〒162-0826 東京都新宿区市谷船河原町11番地 電話 03-3260-4791)
最寄り駅 JR・地下鉄「飯田橋」駅から徒歩5分

X線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講習会 では、X線反射率法の経験豊富な専門家(「新版X線反射率法入門」(講談社2018年刊)の執筆陣)を講師に迎え、基礎から丁寧に解説を行うとともに、シミュレーションやデータ解析の実習 を少人数グループにて、きめ細かく行ないます。 休憩時間には「X線反射率相談デスク」を設け、日頃の疑問、質問したくてもなかなかできなかったことに 6名の専門家がお答えします。

09:15     開場、受付開始
09:30 -09:50 X線反射率法とは  桜井健次(物材機構)
09:50 -10:50 X線反射率実験の注意事項  表和彦(リガク)
10:50 -11:00 休憩
11:00 -12:00 X線反射率法のシミュレーション・データ解析実習
12:00 -13:00 昼食休憩  (X線反射率相談デスク、6箇所設置)
13:00 -14:20 X線反射率法のシミュレーション・データ解析実習
14:20 -15:00 X線反射率データ例①有機・高分子薄膜  林好一(名工大)
15:00 -15:30 X線反射率データ例②電子材料   川村朋晃(日亜化学)
15:30 -15:40 休憩
15:40 -16:20 X線反射率データ例③磁性薄膜・デバイス 上田和浩(日立)
16:20 -16:40 X線反射率データ例④電池・電気化学界面 宮田登(CROSS)
16:40 解散

実習は、実践コース (約4名 数年以上の経験のある方向け 担当 表和彦)
体験Aコース (約8名 初心者もしくは経験1~2年の方向け 担当 上田和浩)
体験Bコース(約8名 初心者もしくは経験1~2年の方向け 担当 桜井健次)
に分かれて実施します。

○実践コース  (担当 表和彦 4名まで)
(検討したい実験データと ご自分のPCを必ずお持ちください。皆様の解析上の疑問点や不明点を個別指導致します。ご自分のデータをご自分で解析されたい方のみ参加できます。)
○体験Aコース(担当 上田和浩  8名まで)
(薄膜・多層膜の実際に得られたX線反射率データの解析を実演いたします。得られた生データから始め、一段階づつ進め、ご質問などにも回答しながら、最終的に答えを出すところまで、丁寧に解説いたします。)
○体験Bコース (担当 桜井健次 8名まで)
(実データの例を素材とし、多くのシミュレーションを行うことの重要性やデータ解析の考え方、個々の細かな手順、注意事項を解説いたします。使用するソフトウエアとデータは事前にダウンロードして頂き、ご自分のPCでご覧頂くこともできるようにする予定です。)

実習コースは実践、体験A, Bのなか からお選びいただきます。特にご希望のない場合も、個別にお話をうかががい、ご相談の上、最適のコースを決めさせて頂きます。なお、当日になってからのコース変更はできません。ご注意ください。

教材
「新版X線反射率法入門」(講談社、6804円)を参考書として配布するほか( ご希望に応じ着払い宅急便にて事前送付も致します)、すべての講義に完全対応したレジュメを用意いたします。

定員 
約20名
なお、2020年3月開催の第8回講習会を申し込まれ、手続き完了後にやむなくご来場いただけなかった皆様はご招待させて頂きます。当日は既にお送りしている参考書や配布資料をご持参ください。

参加申込み
 下記Webページにて、お申し込みください。
 折り返し、詳細なご連絡をいたします。
 http://xray-neutron-buried-interface.jp/ApplicationXRRschool.html

2020年2月24日

光機能研究会発足のお知らせ -

本研究会の常任幹事でもある兵庫県立大の和達大樹先生がこのたび「量子ビームによる表面界面の機能探究研究会」(略称 機能研究会)を設立される運びとなりました。

埋もれた界面のX線・中性子解析研究会ご関係の皆様には、ぜひ、この光機能研究会に積極的にご参加くださいますよう、お薦めいたします。埋もれた界面のX線・中性子解析研究会で取り扱ってきたテーマの多くは、この研究会でも主要なターゲットになっていると見受けられます。しかし、それにとどまらず、将来に向け、より広く、より大勢の方々にご参加いただけるように拡張する余地を大きく残しております。

埋もれた界面のX線・中性子解析研究会において、東京・竹橋で、年4~6回ほど継続的に行われてきたミニ研究会(通称竹橋研究会)は、機能研究会に引き継がれ、場所を東大・本郷キャンパスに移し、今後は本郷研究会と呼ばれることになる見通しです。

機能研究会」の大いなる潜在的発展性に期待しております。皆様の積極的なご参加をお願いいたします。

2019年9月27日

第8回講習会「X線反射率法による薄膜・多層膜の解析」(2020年3/2(月)つくば) -

前回からだいぶ間があいてしまいましたが、第8回目になるX線反射率講習会を開催いたします。

ぜひ皆様の周辺の方にお薦めください。受付も開始しております。

よろしくお願いいたします。

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第8回講習会「X線反射率法による薄膜・多層膜の解析」
http://xray-neutron-buried-interface.jp/TutorialXRR2019.pdf

主催 (公社)応用物理学会 埋もれた界面のX線・中性子解析研究会
http://xray-neutron-buried-interface.jp/

日時 2020年3月2日(月)9:00~16:30
場所  国立研究開発法人物質・材料研究機構 千現地区
(〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1 電話 029-859-2000)
http://www.nims.go.jp/jpn/visiting/tsukuba.html

最寄り駅 つくばエクスプレス線 つくば駅 南へ徒歩8分
http://www.mir.co.jp/

X線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講習会 では、X線反射率法の経験豊富な専門家(「新版X線反射率法入門」(講談社2018年刊)の執筆陣)を講師に迎え、基礎から丁寧に解説を行うとともに、シミュレーションやデータ解析の実習 を少人数グループにて、きめ細かく行ないます。 休憩時間には「X線反射率相談デスク」を設け、日頃の疑問、質問したくてもなかなかできなかったことに 6名の専門家がお答えします。


08:40      開場、受付開始
09:00 -09:30  X線反射率法とは        桜井健次(物材機構)
09:30 -10:30  X線反射率実験の注意事項   表和彦(リガク)
10:40 -10:40  休憩
10:30 -12:00  X線反射率法のシミュレーション・データ解析実習
       (実践および経験A,Bコース
12:00 -13:00  昼食休憩  (12:30-13:00 X線反射率相談デスク、6箇所設置)
13:00 -14:00  X線反射率法のシミュレーション・データ解析実習
       (実践および経験A,Bコース
14:00 -14:40  X線反射率データ例① 有機・高分子薄膜 林好一 (名工大)
14:40 -15:10  X線反射率データ例② 先端電子材料   川村朋晃(日亜化学)
15:10 -15:20  休憩
15:20 -16:00  X線反射率データ例③ 磁性薄膜・デバイス 上田和浩(日立)
16:00 -16:30  X線反射率データ例④ 機能薄膜      宮田登(CROSS)
16:30 解散  (17:00まで X線反射率相談デスク、6箇所設置)

実習は、実践コース (約4名 数年以上の経験のある方向け 担当 表和彦)、
体験Aコース (約8名 初心者もしくは経験1~2年の方向け 担当 上田和浩)、
体験Bコース(約8名 初心者もしくは経験1~2年の方向け 担当 桜井健次)
に分かれて実施します。

○実践コース  (担当 表和彦 4名まで)
(検討したい実験データと ご自分のPCを必ずお持ちください。皆様の解析上の疑問点や不明点を個別指導致します。ご自分のデータをご自分で解析されたい方のみ参加できます。)
○体験Aコース(担当 上田和浩 8名まで)
(薄膜・多層膜の実際に得られたX線反射率データの解析を実演いたします。得られた生データから始め、一段階づつ進め、ご質問などにも回答しながら、最終的に答えを出すところまで、丁寧に解説いたします。)
○体験Bコース (担当 桜井健次 8名まで)
(実データの例を素材とし、多くのシミュレーションを行うことの重要性やデータ解析の考え方、個々の細かな手順、注意事項を解説いたします。使用するソフトウエアとデータは講習会実習時間中、ダウンロードして、ご自分のPCでご覧頂くこともできるようにする予定です。)

実習コースは実践、体験A, Bのなか からお選びいただきます。特にご希望のない場合も、個別にお話をうかががい、ご相談の上、最適のコースを決めさせて頂きます。なお、当日になってからのコース変更はできません。ご注意ください。

教材
「新版X線反射率法入門」(講談社、6804円)を参考書として配布するほか( ご希望に応じ着払い宅急便にて事前送付も致します)、すべての講義に完全対応したレジュメを用意いたします。

定員 

約20名

参加申込み
 下記Webページにて、お申し込みください。
 折り返し、詳細なご連絡をいたします。
   http://xray-neutron-buried-interface.jp/ApplicationXRRschool.html


連絡先  国立研究開発法人 物質・材料研究機構
     先端材料解析研究拠点 桜井健次
  TEL 029-859-2821 FAX 029-859-2801
  e-mail SAKURAI.Kenji@nims.go.jp

2019年6月17日

第4回研究会ご案内(8/8 東京竹橋) -

2019年第4回研究会を竹橋で開催いたします。

日時 2019年8月8日(木)13:30~17:00 (開場 13:20頃)
場所 学術総合センター内 11階1113室(共用会議室)
  (11階でエレベーターを降りてやや右)
   東京都千代田区一ツ橋2-1-2
   http://www.nii.ac.jp/access/
(最寄駅、地下鉄「神保町」または「竹橋」)

講演:
1. 小林治哉 (筑波大/NIMS)「フランスでの軟X線放射光等による薄膜研究」
2.芝田 悟朗 (東京理科大)「ベクトルマグネットを用いたXMCD測定による磁
性薄膜の軌道占有状態の観測」

2019年5月14日

第3回研究会ご案内(5/27 つくば) -

2019年第3回研究会をつくばで開催いたします。

これまでに、JSAP-MRS 国際シンポジウム(2013) の機会に何度か来日され、当研究会関係
のイベントにも参加されたことがあるので、ご存じの方も多いかと思いますが、Krassimir Stoev 博士が、5月20日~28日、つくばに滞在されます。

ご関心のある方の来聴、歓迎いたします。


日時 2019年5月27日(月)14:00~16:00 (開場 13:50頃)
場所 (国)物質・材料研究機構千現地区研究本館
2F 役員会議室
(〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1 電話: 029-859-2000(代表))
http://www.nims.go.jp/nims/office/tsukuba_sengen.html

最寄り駅 つくばエクスプレス線 つくば駅 南へ徒歩8分
http://www.mir.co.jp/

講演:
Dr.Krassimir Stoev
Canadian Nuclear Laboratories
"Development of Radiographic Image Processing Algorithms at CNL"

2019年2月28日

第2回研究会ご案内(3/28 東海村) -

2019年第2回研究会は、CROSS宮田さんのお世話で、東海村で開催します。

研究会は午後ですが、午前中に施設見学を計画しています。参加される方は事前の予約が必要で、その締切がそろそろですので、ご希望の方はお急ぎご連絡ください。

日時 2019年3月28日(木)13:30~16:30 (開場 13:20頃)

場所 いばらき. 量子ビーム. 研究センター 会議室B301
   〒319-1106 茨城県那珂郡東海村白方162−1
   https://neutron.cross.or.jp/ja/access/

午前7時頃、つくばセンターから東海までのKEKバスが出ています。見学の方は、前夜、つくばにお泊りになられると便利かもしれません。
https://www2.kek.jp/rso/Access/pdf/J-PARCbus.pdf

講演:
1.熊田高之(JAEA)「核偏極中性子反射率法による多層膜試料の表面・界面構造
解析手法の開発」
2.大石一城(CROSS)「中性子小角・広角散乱装置「大観」の現状と磁性材料に
関する成果」
3.根本文也(KEK)「中性子反射率計BL16 SOFIAの現状とその応用」

2018年12月17日

第1回研究会ご案内(1/16東京竹橋) -

日時 2019年1月16日(水)13:30~17:00 (開場 13:20頃)
場所 学術総合センター内 11階1113室(共用会議室)
  (11階でエレベーターを降りてやや右)
   東京都千代田区一ツ橋2-1-2
   http://www.nii.ac.jp/access/
(最寄駅、地下鉄「神保町」または「竹橋」)

講演:
1.大槻太毅(京大 相関環境学専攻)
「電場印加下におけるRu酸化物のX線分光」
2.久保田雄也(JASRI)
「SACLA軟X線ビームラインの現状と今後の展望」
3.香野淳(福岡大)
「強誘電体ナノ粒子の構造・物性と計測技術およびメモリ素子の研究開発」
4.鈴木秀士(名大)
「X線非接触原子間力顕微鏡法の半導体材料表面への適用」

2018年11月21日

第5回研究会ご案内(12/12 竹橋) -

日時 2018年12月12日(水)13:30~17:00 (開場 13:20頃)
場所 学術総合センター内 11階1113室(共用会議室)
  (11階でエレベーターを降りてやや右)
   東京都千代田区一ツ橋2-1-2
   http://www.nii.ac.jp/access/
(最寄駅、地下鉄「神保町」または「竹橋」)

講演:
1. 櫻木俊輔 (東大物性研)
「量子とじこめ効果により発現する Pd超薄膜の強磁性」
2.足立匡 (上智大学)
「超低速ミュオンによる表面と埋もれた界面の研究」

2018年10月 1日

第4回研究会ご案内(10/24 竹橋) -

日時 2018年10月24日(水)13:30~17:00 (開場 13:15)
場所 学術総合センター内 11階1113室(共用会議室)
  (11階でエレベーターを降りてやや右)
   東京都千代田区一ツ橋2-1-2
   http://www.nii.ac.jp/access/
(最寄駅、地下鉄「神保町」または「竹橋」)

講演:
1.小林正起 (東京大学大学院工学系研究科)
「希薄磁性半導体のX線分光」
2.木村正雄 (高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所)
「材料のheterogeneityを見るX線顕微鏡」

2018年7月19日

第3回研究会ご案内(8/30 つくば) -

竹橋研究会の翌々日ですが、つくばで下記の研究会を開催いたします。(NIMSの第126回先端計測オープンセミナーと相乗りです)
http://www.nims.go.jp/research/materials-analysis/events/amcpseminar126.html

林先生は当日、つくばに一泊されますので、夜には懇親会も計画しております。
ご都合のつく皆様はぜひご来場ください。

日時 2018年8月30日(木) 15:00-16:00
場所 (国)物質・材料研究機構千現地区研究本館8F 中セミナー室
(〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1 電話: 029-859-2000(代表))
http://www.nims.go.jp/nims/office/tsukuba_sengen.html

講師:林好一先生(名古屋工業大学大学院工学研究科)
講演タイトル 蛍光X線・中性子線ホログラフィーによる機能発現サイトの構造決定

材料にドーパントを添加し、その機能性を制御していることは周知の事実であるが、以外にもドーパントの構造を正確に決定できる手法は存在しない。我々は、X線や中性子線を用いてドーパントを励起し、そこから発せされる蛍光X線やガンマ線などを利用した蛍光X線・中性子線ホログラフィーを開発してきた。本手法を用いることによって、材料機能に直結したドーパント周辺の三次元原子像を高い分解能で再生することができる。講演では、手法の原理や装置の説明とともに、いくつかの先端材料に適用した例を紹介する。

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