2005年2月27日

ユーザーグループ会合(3/16)

下記の通り、ユーザーグループの会合を開催いたします。

日時: 3月16日(水) 午後6時~8時
場所: KEK4号館2階 輪講室1

議題: (1) 反射率ビームライン建設提案の具体化
    (2) PF将来計画にむけて

いずれも提案や計画をお持ちの各グループにプレゼンテーションをお願いします。

また、恒例になってしまいましたが、会合終了後、サイゼリアで食事、アーバンホテルのラウンジにて閉店まで「とても diffuse な話」をすることとしたいと思います。

2005年2月17日

シンポジウム講演プログラム(最終)

シンポジウム 「X線・中性子による quick 反射率法の展望 - 表面や埋もれたナノ構造の変化を追う」(2005年3月30日(水)、埼玉大学)の講演プログラム(に、土壇場で若干の手直しがあり、最終的に次のようになりましたので、お知らせいたします。

プログラム:
午前の部の座長 平野馨一(KEK)
9:00~ 9:40 「quick 反射率法の現状」 NIMS ○桜井健次
9:40~10:20  「InP系ナノワイヤー構造形成過程のリアルタイム観察」 NTT物性基礎研1,兵庫県立大2 ○川村朋晃1,藤川誠司2,Satyaban Bhunia1,渡辺義夫1,尾身博雄1
10:20~10:40 休憩
10:40~11:20 「X線CTR散乱法による半導体結晶界面評価に対するquick X線反射率法の応用」 名古屋大学VBL1,名古屋大学工学研究科2 ○田渕雅夫1,竹田美和1,2
11:20~12:00 「InAs/GaAs(001)量子ドット成長のリアルタイムX線測定」 原研SPring-8 高橋正光,○海津利行
12:00~13:30 昼食休憩
午後一部の座長 松野信也(旭化成)
13:30~14:10 「実験室における液体表面X線反射率測定装置の開発と応用」 学習院大理 ○矢野陽子
14:10~14:50 「水面上の有機単分子膜のXRとGIXD -迅速測定の意義と将来展望-」 宇都宮大工 ○飯村兼一
14:50~15:10 休憩
15:10~15:50 「エネルギー分散型X線反射率とX線導波路現象を利用した薄膜評価技術」 東北大金研 ○林好一
15:50~16:30 「中性子反射計の現状とJ-PARC におけるquick-NRへの展望」 原研先端研 ○武田全康
16:30~16:50 休憩
午後二部の座長 坂田修身(JASRI/SPring-8)
16:50~17:30 「反射率XAFSによる表面スペシエーション(立命館SR事例)」 リコー中研1,立命館大2 ○谷克彦1,西勝英雄2
17:30~18:10 「GI-SAXSによる薄膜・多層膜の微細構造の迅速評価」 京大国際融合1,京大院2,東北大金研3 ○奥田浩司1,落合庄治郎1,小川高志2,森本芳史2,宇佐美徳隆3,中嶋一雄3