2011年4月27日

シンポジウム (July 25, Tsukuba)

既にご案内の通り、春の応用物理学会(神奈川工科大学)の会期中にSPring-8 ソフト界面科学研究会(代表飯村兼一先生)と共同で開催予定であった「X線・放射光による埋もれた界面の構造計測」シンポジウムは、震災のため、やむなく中止になりました。

その後、講演予定者、座長予定者の皆様とご相談した結果、下記の通り、場所と期日だけを改め、元のプログラムとほとんど同じ内容にて、シンポジウムを実施することとなりました。当研究会としては、本年2回目の研究会となりますので、どうぞご参集ください。終了後は、懇親会を予定しております。また、これから3~5年後、10年後を見据えた将来計画や予算要求の相談の機会を懇親会の後、および翌朝にセットしたいと考えております。

 

会合名称:「X線・放射光による埋もれた界面の構造計測」シンポジウム

主催:応用物理学会 埋もれた界面のX線・中性子解析研究会
   SPring-8 ソフト界面科学研究会
   独立行政法人物質・材料研究機構 先端的共通技術部門

日時: 2011年7月25日(月) 9:00 ~16:50
(開場は 8:30 の予定)
(終了後、懇親会を計画しております)
場所: 物質・材料研究機構千現地区 (つくば市千現1-2-1)
    研究本館1F 第1会議室
交通アクセス:
TX つくば駅から来られる方は、当機構の無料バスをご利用になると便利です
(「つくば駅」A3出口を直進、「企業バスのりばB」から出ています)
http://www.nims.go.jp/nims/office/files/nims-bus_bus-stop100506.pdf
http://www.nims.go.jp/nims/office/files/nims-bus_time-table.pdf
地図:
http://www.nims.go.jp/nims/office/tsukuba_sengen.html

月曜日の開催になったため、厚生棟への前泊はできませんが、後泊(月曜の夜)は可能です。必要な方はおっしゃってください。

プログラム
9:00 ~ 9:20 イントロダクリートーク: X線を用いたソフト界面科学研究の最前線 (宇都宮大院工 飯村兼一)
9:20 ~10:00 シンクロトロンX線 反射率測定による液/液界面ギブズ膜の構造解析(九大院理 瀧上隆智)
10:00 ~ 10:40 薄膜・ナノ粒子/Si系の物性とX線反射率法による構造解析(福岡大理 香野 淳)
10:40 ~ 11:00 休憩
11:00 ~ 11:40 ソフト界面に存在する溶存イオンの局所構造(東工大院理工 原田 誠)
11:40 ~ 12:20 GaN系半導体の成長温度における実験室系X線反射率測定(名大院工 竹田美和)
12:20 ~ 13:30 昼食
13:30 ~ 14:10 イオン液体界面におけるイオン多層構造のX線反射率測定による検出(京大院工 西直哉)
14:10 ~ 14:50 極端に非対称なX線回折法による半導体表面界面の格子ひずみ解析(名大院工 秋本晃一)
14:50 ~ 15:10 休憩
15:10 ~ 15:50 X線反射率法による水面高分子電解質ブラシ形成機構の解析(京大院工 松岡秀樹)
15:50 ~ 16:30 固液界面における水の微視的構造とダイナミクス:分子シミュレーションからのアプローチ(東北大 赤木和人)
16:30 ~ 16:50 サマリートーク: X線・放射光による埋もれた界面の構造計測の今後の課題と展望(物材機構 桜井健次)