「量子ビーム界面構造計測」セッションの新設
応用物理学会では、次の春の学会より、「量子ビーム界面構造計測」というッションが常設されることになりました。
せっかくできた新セッションをぜひ活用して、これまで以上に活発な研究討論が行なえるようにと願っております。
次回の応用物理学会は、3/11～14 東海大学湘南キャンパス です。
講演の応募は、新年早々の1月8日ですので、どうぞお忘れなく、お願いいたします。
7.4 量子ビーム界面構造計測
趣旨
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X線、中性子、電子線等の量子ビームを活用した埋もれた界面の構造計測に関するあらゆる学術的討論を行う。半導体・電子材料からソフトマテリアル、バイオシステムまで物質・材料の種別や応用分野の違いを超え、多種多様な層状構造を持つ膜、人工格子等、固体および液体の表面／界面の不均一構造や時々刻々の変化を含む種々の未解決問題について、またその計測の基礎技術、装置、データ解析およびそれらの新手法に関わる諸問題について討議する。本中分類は、薄膜・表面大分科とコードシェアすることを希望する。
キーワード
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7X01 薄膜・多層膜の埋もれた界面の機能特性と構造 Structure and functions of buried interfaces of superlattices and multilayered thin films
7X02 埋もれた超薄膜・ナノ物質の化学組成と構造 Chemical composition and structure of buried ultra thin films and nano materials
7X03 埋もれた界面の可視化、イメージング Visualization and imaging of buried interfaces
7X04 埋もれた界面の微小領域構造計測・顕微分光
Micro/nano microscopic and spectroscopic anlayses of buried interfaces
7X05 埋もれた界面の超高速計測、リアルタイム計測 Ultrafast and realtime analysis of buried interfaces
7X06 固液界面および液液界面の構造とダイナミクス Structure and dynamics of solid-liquid and/or liquid-liquid interfaces
7X07 X線・中性子反射率法および関連技術の高度化 Development of new instruments and analytical methods in X-ray and neutron reflectivity as well as related techniques
7X08 X線自由電子レーザー等の新光源の界面構造計測への応用 Use of new sources such as X-ray free electron lasers
