レファレンスフリーＸ線分析2017研究会(1/19 つくば)
埋もれた界面とは直接の関係はないのですが、来週、以下のような研究会を開催しますので、ご興味のある方は、ぜひ申し込みください（完全事前登録制です）。
2013年9月、第６回Ｘ線ファンダメンタルパラメータ国際ワークショップが茨城県つくば市で１０か国６０名の参加で開催されました。それを契機として、日本の民間企業１０社と国立機関２研究所が協力して、高信頼性のレファレンスフリーＸ線分析に関する継続的な討論の場が生まれました。その活動が2016年に、第１回ラウンドロビンテスト実施という具体的な行動に発展しました。本年からは一層の前進を目指しています。
本研究会は、できれば、2017年を第１回国内会議として、毎年継続的に開催し、これまでよりも多くの方々、特にX線分析のユーザーにあたる企業の皆様方の参
加を得て、一層の発展をめざしたいと願っております。ヨーロッパを中心に推進されている FP initiative とも連携、情報交換いたします。
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レファレンスフリーＸ線分析2017研究会
http://www.nims.go.jp/xray/lab/refreeX/ から参加登録できます。完全事前登録制です。守衛所に名簿を出しますので、ご協力をお願いします。登録なしで当日来られも入場はできません。
日時： 2017 年1 月19 日(木) 13 時00 分～16 時30 分
（開場12時50分頃）
場所： （国）物質・材料研究機構千現地区
研究本館８F 中セミナー室・特別応接室
茨城県つくば市千現１－２－１
http://www.nims.go.jp/nims/office/tsukuba_sengen.html
暫定プログラム（調整中です）
13:00～13:15
・桜井健次（NIMS）「イントロダクトリートーク」(15分）
欧州ＦＰ関連活動、2013年以後の日本での活動などの経緯、および2016年に実施された第1回蛍光X線ラウンドロビンテスト集計結果について報告する
13:15～13:30
・中村利廣（明治大）「PXRD/Rietveld法による結晶相のスタンダードレス定量
分析」（15分）
13:30～13:40
・西埜誠（島津製作所）「散乱Ｘ線の理論計算を用いたＦＰ法」（10分）
13:40～13:50
・水平学（BRUKER）「不均一試料と微小部蛍光X線分析」（10分）
13:50～14:00
・衣笠元気（日本電子）「薄膜の測定事例の紹介」（10分）
14:00～14:10
・池田智（リガク）「基板散乱X線の影響について」（10分）
14:10～14:20
・大森崇史（テクノエックス）「軽元素マトリクスの問題」（10分）
14:20～14:40 休憩
14:40～14:50
・大柿真毅（日立ハイテクサイエンス）「題目調整中」（10分）
14:50～15:00
・山路功（スペクトリス）「題目調整中」（10分）
15:00～15:10
・沖充浩（東芝）「題目調整中」（10分）
15:10～15:20
・青山朋樹（堀場製作所）「題目調整中」（10分）
15:30～16:30
・高信頼性のレファレンスフリーＸ線分析の課題と解決策に関する討論
1. 不均一さ、2. 積層構造、3. 軽元素マトリックス、
4. 物理パラメータの信頼性、5. 標準物質の効果的な使用法
6. その他
参加登録費 １０００円
（当日、領収書と引き換えにお願いします）
