2017年1月11日

レファレンスフリーX線分析2017研究会(1/19 つくば)

埋もれた界面とは直接の関係はないのですが、来週、以下のような研究会を開催しますので、ご興味のある方は、ぜひ申し込みください(完全事前登録制です)。

2013年9月、第6回X線ファンダメンタルパラメータ国際ワークショップが茨城県つくば市で10か国60名の参加で開催されました。それを契機として、日本の民間企業10社と国立機関2研究所が協力して、高信頼性のレファレンスフリーX線分析に関する継続的な討論の場が生まれました。その活動が2016年に、第1回ラウンドロビンテスト実施という具体的な行動に発展しました。本年からは一層の前進を目指しています。

本研究会は、できれば、2017年を第1回国内会議として、毎年継続的に開催し、これまでよりも多くの方々、特にX線分析のユーザーにあたる企業の皆様方の参
加を得て、一層の発展をめざしたいと願っております。ヨーロッパを中心に推進されている FP initiative とも連携、情報交換いたします。

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レファレンスフリーX線分析2017研究会

http://www.nims.go.jp/xray/lab/refreeX/ から参加登録できます。完全事前登録制です。守衛所に名簿を出しますので、ご協力をお願いします。登録なしで当日来られも入場はできません。

日時: 2017 年1 月19 日(木) 13 時00 分~16 時30 分
(開場12時50分頃)
場所: (国)物質・材料研究機構千現地区
研究本館8F 中セミナー室・特別応接室
茨城県つくば市千現1-2-1
http://www.nims.go.jp/nims/office/tsukuba_sengen.html

暫定プログラム(調整中です)

13:00~13:15
・桜井健次(NIMS)「イントロダクトリートーク」(15分)
欧州FP関連活動、2013年以後の日本での活動などの経緯、および2016年に実施された第1回蛍光X線ラウンドロビンテスト集計結果について報告する

13:15~13:30
・中村利廣(明治大)「PXRD/Rietveld法による結晶相のスタンダードレス定量
分析」(15分)

13:30~13:40
・西埜誠(島津製作所)「散乱X線の理論計算を用いたFP法」(10分)

13:40~13:50
・水平学(BRUKER)「不均一試料と微小部蛍光X線分析」(10分)

13:50~14:00
・衣笠元気(日本電子)「薄膜の測定事例の紹介」(10分)

14:00~14:10
・池田智(リガク)「基板散乱X線の影響について」(10分)

14:10~14:20
・大森崇史(テクノエックス)「軽元素マトリクスの問題」(10分)

14:20~14:40 休憩

14:40~14:50
・大柿真毅(日立ハイテクサイエンス)「題目調整中」(10分)

14:50~15:00
・山路功(スペクトリス)「題目調整中」(10分)

15:00~15:10
・沖充浩(東芝)「題目調整中」(10分)

15:10~15:20
・青山朋樹(堀場製作所)「題目調整中」(10分)

15:30~16:30
・高信頼性のレファレンスフリーX線分析の課題と解決策に関する討論
  1. 不均一さ、2. 積層構造、3. 軽元素マトリックス、
  4. 物理パラメータの信頼性、5. 標準物質の効果的な使用法
  6. その他

参加登録費 1000円
(当日、領収書と引き換えにお願いします)