名古屋ワークショップ報告
このたびは７月２１日～２３日に名古屋大学ベンチャービジネスラボラトリにおいて開催された「Ｘ線・中性子による薄膜ナノ構造および埋もれた界面の先端解析技術に関するワークショップ」（New pportunities for nano-structure of thin films and buried interfaces: Advanced characterization using X-rays and neutrons）に、ご参加をいただき、またたいへん熱心で活発なご討論を頂きまして、どうも有難うございました。当日飛び込みの方を含め５０名の参加で、たいへん盛況な集まりにして頂き、たいへん感謝しております。
今回は、第１日目のプレワークショップ企画や第２日目の夜の企画で、Ｘ線反射率プロパーの専門的な理論・実験上の内容を議論する一方、通常のプログラムでは、むしろ、ナノ構造を作成したり、機能・物性を制御したりする研究開発における諸問題と将来方向を主として取り上げ、Ｘ線・中性子の技術でできそうなことはないか、新たな挑戦を行えそうな課題はないかという問題意識での議論を行いました。
初日からたいへん活発な議論が行われ、どの講演でもいつになっても質問がおさまらないことがあるほどで、非常に有意義であったと思います。
本ワークショップは、文部科学省ナノテクノロジー総合支援プロジェクトセンターによる財政的なご援助を頂いて実施されました。同センターには、以下の報告書（案）を送る予定でいます。
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