シンポジウム (July 25, Tsukuba)
既にご案内の通り、春の応用物理学会（神奈川工科大学）の会期中にSPring-8 ソフト界面科学研究会（代表飯村兼一先生）と共同で開催予定であった「Ｘ線・放射光による埋もれた界面の構造計測」シンポジウムは、震災のため、やむなく中止になりました。
その後、講演予定者、座長予定者の皆様とご相談した結果、下記の通り、場所と期日だけを改め、元のプログラムとほとんど同じ内容にて、シンポジウムを実施することとなりました。当研究会としては、本年2回目の研究会となりますので、どうぞご参集ください。終了後は、懇親会を予定しております。また、これから３～５年後、10年後を見据えた将来計画や予算要求の相談の機会を懇親会の後、および翌朝にセットしたいと考えております。
会合名称：「Ｘ線・放射光による埋もれた界面の構造計測」シンポジウム
主催：応用物理学会 埋もれた界面のＸ線・中性子解析研究会
SPring-8 ソフト界面科学研究会
独立行政法人物質・材料研究機構 先端的共通技術部門
日時： 2011年７月２５日（月） 9:00 ～16:50
（開場は 8:30 の予定）
（終了後、懇親会を計画しております）
場所： 物質・材料研究機構千現地区 （つくば市千現１－２－１）
研究本館１Ｆ 第１会議室
交通アクセス：
TX つくば駅から来られる方は、当機構の無料バスをご利用になると便利です
（「つくば駅」A3出口を直進、「企業バスのりばB」から出ています）
http://www.nims.go.jp/nims/office/files/nims-bus_bus-stop100506.pdf
http://www.nims.go.jp/nims/office/files/nims-bus_time-table.pdf
地図：
http://www.nims.go.jp/nims/office/tsukuba_sengen.html
月曜日の開催になったため、厚生棟への前泊はできませんが、後泊（月曜の夜）は可能です。必要な方はおっしゃってください。
プログラム
9：00 ~ 9：20 イントロダクリートーク： X線を用いたソフト界面科学研究の最前線 （宇都宮大院工 飯村兼一）
9：20 ~10：00 シンクロトロンX線 反射率測定による液／液界面ギブズ膜の構造解析（九大院理 瀧上隆智）
10：00 ~ 10：40 薄膜・ナノ粒子／Si系の物性とＸ線反射率法による構造解析（福岡大理 香野 淳）
10：40 ~ 11：00 休憩
11：00 ~ 11：40 ソフト界面に存在する溶存イオンの局所構造（東工大院理工 原田 誠）
11：40 ~ 12：20 GaN系半導体の成長温度における実験室系X線反射率測定（名大院工 竹田美和）
12：20 ~ 13：30 昼食
13：30 ~ 14：10 イオン液体界面におけるイオン多層構造のX線反射率測定による検出（京大院工 西直哉）
14：10 ~ 14：50 極端に非対称なX線回折法による半導体表面界面の格子ひずみ解析（名大院工 秋本晃一）
14：50 ~ 15：10 休憩
15：10 ~ 15：50 Ｘ線反射率法による水面高分子電解質ブラシ形成機構の解析（京大院工 松岡秀樹）
15：50 ~ 16：30 固液界面における水の微視的構造とダイナミクス：分子シミュレーションからのアプローチ（東北大 赤木和人）
16：30 ~ 16：50 サマリートーク: Ｘ線・放射光による埋もれた界面の構造計測の今後の課題と展望（物材機構 桜井健次）
