埋もれた界面ワークショップ2012 （PF研究会 6/26～28)
6/26～28 研究会、皆様、申し込みはおすみでしょうか。
http://www.nims.go.jp/xray/
にある参加フォームをご利用ください。ＫＥＫの宿舎利用や、
イブニングセッションはまだ少し余裕があります。
プログラム
第1日 6月26日（火）
討論企画「新しい量子ビーム源の魅力」
14:50 ～ 15:00 Introductory Talk 桜井健次（物材機構）
15:00 ～ 15:30 次期光源計画としてのER計画概要
Status of the ERL project as a future light source 河田洋（KEK）
15:30 ～ 16:00 ERLの光源性能と利用サイエンス
The Performance and Science Cases of ERL 足立伸一（KEK)
16:00 ～ 16:30 J-PARC物質・生命科学実験施設MLFの特徴
The Feature of J-PARC/MLF 鈴木淳市（CROSS東海）
16:30 ～ 17:30 総合討論
17:30 ～ 懇親会「オー・ド・ヴィ」(アーバンホテル1階)
第2日 6月27日（水）
08:50 ～ 9:00 Introductory Talk 桜井健次（物材機構）
9:00 ～ 9:30 半導体における埋もれた界面構造とそのデバイス特性への影響竹田美和（名大）
9:30 ～ 10:00 結晶成長その場観察を目指したヨハンソン分光結晶を用いるX線回折装置の開発 田渕雅夫（名大）
10:00 ～ 10:30 半導体ナノ構造デバイスの成長制御
Growth control of nano-scale semiconductor devices 高橋正光（JAEA/SPring-8）
10:30 ～ 10:50 休憩（コーヒーブレーク）
10:50 ～ 11:20 Ｘ線の位相計測を利用した埋もれた界面研究の現状と将来展望
X-ray Phase Measurements for Analyzing Buried Interfaces
― Recent Progress and Future Prospects 矢代航（東大）
11:20 ～ 11:50 ナノエレクトロニクスにおける材料と界面の課題
Challenge for discovering new materials and interface control in nano elecronics 知京豊裕（物材機構）
11:50 ～ 13:00 昼食休憩（70分）
13:00 ～ 13:30 太陽電池材料Cu(In,Ga)Se2の電気・光学手法による欠陥評価
Defect characterization of Cu(In,Ga)Se2 by electrical and optical 秋本克洋（筑波大）
13:30 ～ 14:00 X線定在波法の新展開
Generalization of the x-ray standing-wave technique 坂田修身（物材機構/SPring-8）
14:00 ～ 14:30 時分割測定を目指した波長-角度同時分散型Ｘ線反射率計の開発
Development of the X-ray Reflectometer in Multiple Wavelength-Angle Dispersive Mode for Time-Resolved Measurements 荒川悦雄（東京学芸大）
14:30 ～ 15:00 両イオン性水面高分子ブラシのナノ構造とその転移
Nanostructure and Transition of Zwitterionic Polymer Brush at the
Air/Water Interface 松岡秀樹（京大）
15:00 ～ 15:20 休憩（コーヒーブレーク）
15:20 ～ 15:50 Visialization of buried interfaces by X-ray and neutron
reflectivity imaging Vallerie Samson （物材機構）
15:50 ～ 16:20 固液界面での第一原理反応シミュレーション
First-principles simulations on chemical reactions at solid-liquid
interfaces 森川 良忠（阪大）
16:20 ～ 16:50 固液界面の空間スケールと時間スケール
Space and time scale at solid-liquid interfaces 赤木和人（東北大）
16:50 ～ 17:00 休憩
17:00 ～ 18:30 懇親会 （同じ会場にて立食パーティ）
18:30 ～ 21:30 イブニングセッション（５分講演+無制限討論）
1)新しい実験・装置技術およびデータ解析技術
2) 新しい応用分野
1. 多層膜表面におけるＸ線反射率解析の改善
Improved analysis of the X-ray reflectivity on the multilayered surface 藤居義和（神戸大）
2. 逆X線光電子ホログラフィーの技術確立
Internal-Detector Electron Holography: Measurement and Estabilishment
上坂彰朗（堀場製作所）
3. ソフトマター内部の'埋もれた'微細構造の超小角X 線散乱による非破壊精
密評価 篠原貴道（九大高原研）
4. J-PARC BL16 SOFIA反射率計の現状 小林元康（ERATO高原プロジェクト）
5. J-PARC BL17 SHARAKU反射率計の現状 水沢まり（CROSS東海）
6. in-situ計測の近況
Development of an in-situ X-ray Diffraction System 松野信也（旭化成）
第3日 6月28日（木）
9:00 ～ 9:30 GI-SAXS による表面周期ナノ構造の形状評価 表和彦（リガク）
9:30 ～ 10:00 バイオインターフェースモデルとしての組織化分子膜のX線構造解析
X-ray Structural Analysis of Organized Molecular Films as Biointerface
Models 飯村兼一（宇都宮大）
10:00 ～ 10:30 強誘電体薄膜の界面構造の精密計測とその応用に関する研究
Research on precise measurements of interface structures of ferroelectric
thin films and their application 香野淳（福岡大）
10:30 ～ 10:50 休憩（コーヒーブレーク）
10:50 ～ 11:20 ナノ材料管理に向けた国際的な動向とX線計測に期待
される役割 藤本俊幸（産総研）
11:20 ～ 11:50 脂質立方相の構造から界面の相互作用を探る
Can lipidic cubic phase be used as a tool for studying interfacial interactions ? 高橋浩（群馬大）
11:50 ～ 13:00 昼食休憩（70分）
13:00 ～ 13:30 リアルタイム2D-GIXDによる有機薄膜成長のその場観察
In situ real-time observation of organic thin film growth by means of 2D-GIXD 細貝拓也（岩手大)
13:30 ～ 14:00 Ｘ線反射率法による微小領域計測と異常分散利用Ｘ線反射率解析の可能性
The possibility of micro X-ray reflectivity measurements and X-rayreflectivity analysis using anomalous dispersion effect 上田和浩（日立）
14:00 ～ 14:30 多波長同時分散光学系を用いたCTR散乱の迅速測定
Quick measurement of crystal truncation rod scattering in simultaneous multi-wavelength dispersive mode 白澤徹郎（東大物性研）
14:30 ～ 15:00 軟X線領域でのコントラストマッチングGISAXS 奥田浩司
（京大)
15:00 ～ 15:30 J-PARC 反射率ビームラインBL17の今後の展開
Future prospects of neutron reflectometry at BL17 in J-PARC 武田全康
（JAEA)
15:30 ～ Closing
懇親会：6月26日（火）と27日（水）の夜に計画しています。
第１日の夜 アーバンホテルの１Ｆ
１人３０００～４０００円程度を想定
人数把握の都合上、要予約です。
第２日の夜 会場である小林ホール内での立食パーティ
ケータリングで軽い飲食になります。
過去１０年のワークショップでは無料のことが多かったですが、今回低料金で参加費をいただく可能性があります
（参加人数を見て最終決定）
終了後、イブニングセッションがあります。
