2015年3月21日

学会報告

先週の学会での「 7.4 量子ビーム界面構造計測」のサマリをお送りします。学会のホームページにも掲載される予定です。

秋の名古屋でもどうぞよろしくお願いいたします。

-----------------------------------------------------------------------------------------------------------
「7.4 量子ビーム界面構造計測」(オーラル11 件、ポスター5 件)

本中分類は、X 線、中性子、電子線等の量子ビームを活用した埋もれた界面の構造計測に関するあらゆる学術的論を行うことを目的として新たに設立された。オーラル、ポスターをあわせた16件の内訳は、X 線光電子分関係3件、X 線反射率関係3件、中性子反射率関係3件、各種機能デバイス界面評価3件、ポンプ・プローブ高速解析関係2件、高温結晶成長その場観察1件、SPM・放射光連携による化学イメージング新技術1件、波計測による構造イメージング新技術1件である。いずれもたいへん興味深い講演であり、会場から多数の質疑答が続き、討論時間が全く足りない状況であった。多種多様な系の薄膜・多層膜の不均一構造や時々刻々の変を含む種々の未解決問題が取り上げられ、また、その計測の基礎技術、装置、データ解析の新手法にもこだわた討論が行われた。講演奨励賞の申請もあり、若手の参加による今後の発展の芽が感じられたことも有意義でった。これまでビーム応用の大分科に明確な形ではキーワードが書きこまれていなかった中性子関係の講演がわったことは、界面構造の計測が厚みを増し、一層の学術的理解が進むことに寄与すると期待される。