2017年3月30日

2017年第2回研究会予告 (6/29 つくば)

少し先になりますが、6月末にNIMSで開催するセミナーに便乗して、研究会を開催いたします。講師の奥田先生は当日つくばに宿泊されますので、夜にも懇親会など開催して、多くの議論を行いたいと考えています。関心のある方はぜひご計画ください。

日時 2017年6月29日(木)15:00~16:00
場所 (国)物質・材料研究機構千現地区研究本館8F中セミナー室
    茨城県つくば市千現1-2-1
講師 奥田浩司先生(京都大学大学院工学研究科)
講演タイトル(仮)
 「ナノとマクロをつなぐ材料評価へ:小角散乱法による材料評価の拡張」

2017年3月21日

シンポジウム御礼とサマリ案

先週、3月16日にパシフィコ横浜で開催された応用物理学会のシンポジウム(薄膜・多層膜の界面イメージング)では、たいへんお世話になりました。

朝9時からの開催で、なかなか集まって頂きにくいところ、ほぼまる1日、常時約40名以上の出席者がおられ、多いときは定員約100名の会場があふれそうになり、また、非常に充実した討論が行われ、たいへん有意義でした。


7名の招待講演の皆様をはじめとする合計17名のご講演者の方々、また座長をしてくださった香野淳先生、高橋正光先生、竹田美和先生、さらに熱心にご議論頂いた研究会の皆様のご協力のおかげとたいへん感謝いたしております。

シンポジウムのサマリ案をご覧ください。
もし何かお気づきの点があれば、ぜひお知らせください。皆様のご意見をいただいて改良したいと願っております。

なお、新年度もできるだけ頻繁にミニ研究会を開催したいと思っております。
6月は、NIMSの先端計測のセミナーに便乗しますが、他の月は、東京都心で開催したいと思っています。
そのような場でも、ぜひ今後の新しい研究に関するご議論をお願いいたします。

シンポジウムの御礼まで

2017年3月 8日

界面イメージングシンポジウム (3/16 横浜)

横浜での春の応用物理「薄膜・多層膜の界面イメージング」シンポジウムは来週と迫ってきました。

朝9時から夕方5時までです。全部で18件の講演が行われます。

どうぞよろしくお願いいたします。
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シンポジウム名:薄膜・多層膜の界面イメージング
   http://meeting.jsap.or.jp/file/symposium_16_7.pdf
日時 2017年3月16日(木)9時00分~17時00分
場所 パシフィコ横浜 512室
   〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1
   (春の応用物理の会場の一部です)

09:00 ~ 09:15 薄膜・多層膜の埋もれた界面を可視化する新計測法について
        桜井 健次 (物材機構 )
09:15 ~ 09:45 マルチスライスX線タイコグラフィ:埋もれた界面のナノイメージングに向けて
        高橋 幸生 (阪大院工 , 理研放射光センター )
09:45 ~ 10:15 薄膜材料の蛍光X線ホログラフィー
        福村 知昭 (東北大WPI-AIMR , 東北大院理 )
10:15 ~ 10:30 レーザー励起磁化反転観測のための時間分解X 線磁気円二色性装置開発
        和達 大樹 (東大物性研 , 東大理)
10:30 ~ 10:45 偏光変調型軟X線光源による磁気光学効果の研究
        久保田 雄也 (東大物性研 ,東大理)
10:45 ~ 11:00 休憩
11:00 ~ 11:30 Visualization of buried interfaces by X-ray reflectivity imaging
        Jinxing Jiang (Univ. of Tsukuba , Nat. Inst. for Mat. Sci. )
11:30 ~ 12:00 X線による表面・界面構造解析の新たな展開:X線の位相を利用したイメージング法との融合
        矢代 航 (東北大多元研 , JST-ERATO )
12:00 ~ 12:15 X線反射率法によるミクロ相分離単分子膜の構造解析
        枝 真住 (宇都宮大院工 )
12:15 ~ 13:45 休憩
13:45 ~ 14:00 界面ナノ構造評価のための高分解能レーザー励起光電子顕微鏡
        谷内 敏之( 東大物性研 )
14:00 ~ 14:15 超薄膜構造におけるX線の干渉効果を利用した界面の元素分析
        小林 治哉(筑波大院数理 , 物材機構 )
14:15 ~ 14:30 フレキシブル基板上に形成した薄膜のX線反射率測定のための簡便かつ再現性の高い試料固定法
        香野 淳 (福岡大理)
14:30 ~ 14:45 Interface imaging of elements in atomic scale - Application of projection-type X-ray fluorescence imaging -
        Wenyang Zhao (Tsukuba Univ. , NIMS )
14:45 ~ 15:00 異種金属基板を用いた二次元ルテニウムの電子状態操作
        豊田 智史 (京都大学)
15:00 ~ 15:15 休憩
15:15 ~ 15:45 ペロブスカイト酸化物超薄膜の自動構造解析法開発
        若林 裕助 ( 阪大基礎工 )
15:45 ~ 16:15 固体高分子形燃料電池電極触媒層の空間分解放射光計測
        関澤 央輝 (高輝度光科学研究セ , 電通大燃料電池セ )
16:15 ~ 16:30 角度分解トポグラフィーと局所ロッキングカーブ法によるAlイオン注入SiC基板の歪状態の観察-X線侵入深さ依存性―
        高橋 由美子(KEK-PF)
16:30 ~ 16:45 J-PARC MLF偏極中性子反射率計「写楽」の整備状況 2017春
        宮田 登 (CROSS東海)
16:45 ~ 17:00 XANAMの効率的運用を目指した測定法の検討
        鈴木 秀士 ( 名大院工)