名古屋ワークショップご案内とイブニングセッション募集
既にご案内の通り、本年、7/25～27 に名古屋大学において「埋もれた界面のＸ
線・中性子解析に関するワークショップ2010」
（http://xray-neutron-buried-interface.jp/2010ws.htm）
を開催いたします。
講演プログラムがほぼできてきたところですが（後付け）
http://xray-neutron-buried-interface.jp/2010wsProgram.htm
http://xray-neutron-buried-interface.jp/2010wsProgramQuickView.htm
第2日目月曜18:30からのイブニングセッションのトークを募集いたします。イブ
ニングセッションは、本ワークショップが始まった2001年以来、伝統的に行って
いるもので、若手研究者などを中心とし、最新のプレリミナリな成果、新しいア
イデア・計画や研究進捗を２～数枚のスライドで短く発表して頂き、全体で討議
するものです。今回も１０数件ほど募集いたしますので、ぜひ積極的に応募なさっ
てください。桜井までご連絡いただけると助かります。なお、本年は、若手研究
者向けの旅費サポートなどは行っておりませんので、あらかじめ、ご理解をお願
いいたします。
本ワークショップでは、英文論文集の刊行を計画しております。
本年は、IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
http://www.iop.org/EJ/journal/mse を用いる予定です。
分量は2ページ以上、ご自由に、またタイトルや内容もご講演のものと同じでも、
まったく異なっていても構いません 。ぜひ皆様の最近の研究活動の一端（ある
いは将来に向けた計画、構想、提案等もＯＫ、理論的な内容の原稿や、既発表デー
タをまとめ直したショートレヴュー的色彩の原稿も構いません）を記録に残して
頂けるよう、お願いいたします。
２報以上のご投稿も歓迎いたします。なお、査読は編集委員会において実施いた
します。フォーマットは、IＯP のテンプレート
http://xray-neutron-buried-interface.jp/IOP.dot（右クリック、「対象をファイル
に保存」）をご利用の上、キャメラレディの形でご提出願います
（ 英国 IOP にはPDF ファイルで提出することになりますが、まずはワードのファ
イルを受付にお出しください。）
見本もございます。 http://xray-neutron-buried-interface.jp/IOP_Sample.doc
今回、ページ数の制限は設けておりません（過去の実績から平均４ページくらい
かと想像しておりますが、多くても少なくても差し支えありません）。印刷物は
モノクロ印刷として出版・製本されますので、ご考慮ください。ただし、 オン
ライン・電子版およびＣＤはカラー印刷が可能です。
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第1日目（2010年７月25日（日））
14:00 開場
15:00 ～ 18:00 理論研究者との交流
題目未定 (30分） 塚田捷（東北大WPI-AIMR）
題目未定 (30分） 森川 良忠（阪大）
題目未定 (30分） 赤木和人（東北大）
17:00 ～ 18:00 総合討論
18:00 ～ 懇親会
第2日目（2010年７月26日（月））
08:50 ～ 9:00 Introductory Talk 桜井健次（物材機構）
9:00 ～ 9:40 題目未定 竹田美和（名大）
9:40 ～ 10:20 「量子ビームを用いたソフト界面の特性解析」 高原淳（九大）
10:20 ～ 10:40 休憩（コーヒーブレーク）
10:40 ～ 11:20 「Ｘ線光子相関分光を用いたナノスケールのダイナミクス解析」
篠原佑也（東大）
11:20 ～ 12:00 「X線回折による周期ナノ構造の断面イメージング」 表和彦（リガク）
12:00 ～ 13:30 昼食休憩（90分）
13:30 ～ 14:10 題目未定 秋本晃一.(名大）
14:10 ～ 14:50 題目未定 神谷格（豊田工大）
14:50 ～ 15:10 「ヨハンソン分光結晶を用いたX線CTR散乱測定装置」 田渕雅夫
（名大）
15:10 ～ 15:30 休憩（コーヒーブレーク）
15:30 ～ 16:10 「非線形振動分光を用いた埋もれた界面探査 -固/液界面から液
/液界面まで」 大内幸雄（名大）
16:10 ～ 16:50 「ソリューションプラズマにおける界面」 高井治（名大）
16:50 ～ 17:00 休憩
17:00 ～ 18:30 懇親会 （同じ会場にて立食パーティ）
（イブニングセッション）
18:30 ～ 21:00 話題提供 （５分講演+無制限討論）
1)新しい実験・装置技術およびデータ解析技術
2) 新しい応用分野
第3日目（2010年７月27日（火）)
9:00 ～ 9:40 「時々刻々の変化を追う蛍光Ｘ線イメージングとＸ線反射率法」
桜井健次（物材機構）
9:40 ～ 10:20 題目未定 奥田浩司（京大）
10:20 ～ 10:40 休憩（コーヒーブレーク）
10:40 ～ 11:20 題目未定 藤居義和（神戸大）
11:20 ～ 11:40 「中性子反射率法によるブロック共重合体薄膜中への
選択溶媒の浸透深さのその場観測」 鳥飼直也（三重大）
11:40 ～ 12:00 題目未定 林好一（東北大）
12:00 ～ 13:30 昼食休憩（90分）
13:30 ～ 13:50 「J-PARCの新反射率計について」 武田全康（JAEA)
13:50 ～ 14:10 「Ge-core/Si量子ドットのＸ線反射率・GISAXS解析と物性評価」 香野淳（福岡大）
13:50 ～ 14:10 「Ge-core/Si量子ドットのＸ線反射率・GISAXS解析と物性評価」 香野淳（福岡大）
14:10 ～ 14:30 「異常分散利用２波長差分反射率法によるフーリエ変換積層構造解析法の検討」 上田和浩（日立）
14:50 ～ 15:10 「Ｘ線Talbot干渉計におけるビジビリティコントラストの定量
解析とGISAXSへの応用可能性について」 矢代航（東大）
15:10 ～ Closing
