News: 2017年1月アーカイブ: お知らせ

開催のご案内：「中性子とミュオンによる界面研究」 Workshop第19回 CROSSroads of Users and J-PARC

総合科学研究機構中性子科学センター（CROSS東海）では、大強度陽子加速器施
設（J-PARC）の物質・生命科学実験施設（MLF）に設置された7つの共用ビームラ
インについて、その利用促進業務を行っています。その一環として2011年より開
始しました「CROSSroads of Users and J-PARC」シリーズは、
(1) J-PARCビームラインの開発及び研究利用に関するユーザーの皆様への情報提供
(2) 利用者サイドからの具体的な要望や提案の受付
(3) インパクトの強い成果を生み出す活発な議論、および具体的成果の発表
を主目的にしています。

今回のCROSSroads Workshopでは、MLFで利用される中性子及びミュオンから解き
明かされる界面の物理について、電池材料及び機能性材料を専門とされる講師の
先生方にご講演頂きます。研究会では、中性子及びミュオンそれぞれの実験の特
徴を活かした測定について紹介していただくほか、超低速ミュオンと中性子反射
率測定による新たな可能性を拓く議論の場を提供できればと考えております。

開催日時：平成29年2月13日（月） 13:00 - 18:00
会場：いばらき量子ビーム研究センター B101会議室
　　　〒319-1106 茨城県那珂郡東海村白方162-1
参加費：無料
プログラム、申し込み方法：下記のウェブサイトをご覧ください。
http://www.cross-tokai.jp/ja/research/events/2017/v17008/

レファレンスフリーＸ線分析2017研究会(1/19 つくば)

埋もれた界面とは直接の関係はないのですが、来週、以下のような研究会を開催しますので、ご興味のある方は、ぜひ申し込みください（完全事前登録制です）。

2013年9月、第６回Ｘ線ファンダメンタルパラメータ国際ワークショップが茨城県つくば市で１０か国６０名の参加で開催されました。それを契機として、日本の民間企業１０社と国立機関２研究所が協力して、高信頼性のレファレンスフリーＸ線分析に関する継続的な討論の場が生まれました。その活動が2016年に、第１回ラウンドロビンテスト実施という具体的な行動に発展しました。本年からは一層の前進を目指しています。

本研究会は、できれば、2017年を第１回国内会議として、毎年継続的に開催し、これまでよりも多くの方々、特にX線分析のユーザーにあたる企業の皆様方の参
加を得て、一層の発展をめざしたいと願っております。ヨーロッパを中心に推進されている FP initiative とも連携、情報交換いたします。

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レファレンスフリーＸ線分析2017研究会

http://www.nims.go.jp/xray/lab/refreeX/　から参加登録できます。完全事前登録制です。守衛所に名簿を出しますので、ご協力をお願いします。登録なしで当日来られも入場はできません。

日時： 2017 年1 月19 日(木) 13 時00 分～16 時30 分
（開場12時50分頃）
場所：（国）物質・材料研究機構千現地区
研究本館８F　中セミナー室・特別応接室
茨城県つくば市千現１－２－１
http://www.nims.go.jp/nims/office/tsukuba_sengen.html

暫定プログラム（調整中です）

13:00～13:15
・桜井健次（NIMS）「イントロダクトリートーク」(15分）
欧州ＦＰ関連活動、2013年以後の日本での活動などの経緯、および2016年に実施された第1回蛍光X線ラウンドロビンテスト集計結果について報告する

13:15～13:30
・中村利廣（明治大）「PXRD/Rietveld法による結晶相のスタンダードレス定量
分析」（15分）

13:30～13:40
・西埜誠（島津製作所）「散乱Ｘ線の理論計算を用いたＦＰ法」（10分）

13:40～13:50
・水平学（BRUKER）「不均一試料と微小部蛍光X線分析」（10分）

13:50～14:00
・衣笠元気（日本電子）「薄膜の測定事例の紹介」（10分）

14:00～14:10
・池田智（リガク）「基板散乱X線の影響について」（10分）

14:10～14:20
・大森崇史（テクノエックス）「軽元素マトリクスの問題」（10分）

14:20～14:40 休憩

14:40～14:50
・大柿真毅（日立ハイテクサイエンス）「題目調整中」（10分）

14:50～15:00
・山路功（スペクトリス）「題目調整中」（10分）

15:00～15:10
・沖充浩（東芝）「題目調整中」（10分）

15:10～15:20
・青山朋樹（堀場製作所）「題目調整中」（10分）

15:30～16:30
・高信頼性のレファレンスフリーＸ線分析の課題と解決策に関する討論
　　1. 不均一さ、2. 積層構造、3. 軽元素マトリックス、
　　4. 物理パラメータの信頼性、5. 標準物質の効果的な使用法
　　6. その他

参加登録費　１０００円
（当日、領収書と引き換えにお願いします）