シンポジウム講演プログラム（最終）
シンポジウム 「Ｘ線・中性子による quick 反射率法の展望 - 表面や埋もれたナノ構造の変化を追う」（２００５年３月３０日（水）、埼玉大学）の講演プログラム(に、土壇場で若干の手直しがあり、最終的に次のようになりましたので、お知らせいたします。
プログラム：
午前の部の座長 平野馨一（KEK）
9:00～ 9:40 「quick 反射率法の現状」 NIMS ○桜井健次
9:40～10:20 「InP系ナノワイヤー構造形成過程のリアルタイム観察」 NTT物性基礎研1，兵庫県立大2 ○川村朋晃1，藤川誠司2，Satyaban Bhunia1，渡辺義夫1，尾身博雄1
10:20～10:40 休憩
10:40～11:20 「X線CTR散乱法による半導体結晶界面評価に対するquick X線反射率法の応用」 名古屋大学VBL1，名古屋大学工学研究科2 ○田渕雅夫1，竹田美和1,2
11:20～12:00 「InAs/GaAs(001)量子ドット成長のリアルタイムX線測定」 原研SPring-8 高橋正光，○海津利行
12:00～13:30 昼食休憩
午後一部の座長 松野信也（旭化成）
13:30～14:10 「実験室における液体表面X線反射率測定装置の開発と応用」 学習院大理 ○矢野陽子
14:10～14:50 「水面上の有機単分子膜のXRとGIXD －迅速測定の意義と将来展望－」 宇都宮大工 ○飯村兼一
14:50～15:10 休憩
15:10～15:50 「エネルギー分散型X線反射率とX線導波路現象を利用した薄膜評価技術」 東北大金研 ○林好一
15:50～16:30 「中性子反射計の現状とJ-PARC におけるquick-NRへの展望」 原研先端研 ○武田全康
16:30～16:50 休憩
午後二部の座長 坂田修身（JASRI/SPring-8）
16:50～17:30 「反射率XAFSによる表面スペシエーション（立命館SR事例）」 リコー中研1，立命館大2 ○谷克彦1，西勝英雄2
17:30～18:10 「GI-SAXSによる薄膜・多層膜の微細構造の迅速評価」 京大国際融合1，京大院2，東北大金研3 ○奥田浩司1，落合庄治郎1，小川高志2，森本芳史2，宇佐美徳隆3，中嶋一雄3
