横浜での春の応用物理「薄膜・多層膜の界面イメージング」シンポジウムは来週と迫ってきました。
朝９時から夕方5時までです。全部で１８件の講演が行われます。
どうぞよろしくお願いいたします。
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シンポジウム名：薄膜・多層膜の界面イメージング
http://meeting.jsap.or.jp/file/symposium_16_7.pdf
日時 2017年3月16日（木）9時00分～17時00分
場所 パシフィコ横浜 512室
〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1
（春の応用物理の会場の一部です）
09:00 ～ 09:15 薄膜・多層膜の埋もれた界面を可視化する新計測法について
桜井 健次 (物材機構 )
09:15 ～ 09:45 マルチスライスＸ線タイコグラフィ：埋もれた界面のナノイメージングに向けて
高橋 幸生 (阪大院工 , 理研放射光センター )
09:45 ～ 10:15 薄膜材料の蛍光X線ホログラフィー
福村 知昭 (東北大WPI-AIMR , 東北大院理 )
10:15 ～ 10:30 レーザー励起磁化反転観測のための時間分解X 線磁気円二色性装置開発
和達 大樹 (東大物性研 , 東大理)
10:30 ～ 10:45 偏光変調型軟X線光源による磁気光学効果の研究
久保田 雄也 (東大物性研 ,東大理)
10:45 ～ 11:00 休憩
11:00 ～ 11:30 Visualization of buried interfaces by X-ray reflectivity imaging
Jinxing Jiang (Univ. of Tsukuba , Nat. Inst. for Mat. Sci. )
11:30 ～ 12:00 X線による表面・界面構造解析の新たな展開：X線の位相を利用したイメージング法との融合
矢代 航 (東北大多元研 , JST-ERATO )
12:00 ～ 12:15 X線反射率法によるミクロ相分離単分子膜の構造解析
枝 真住 (宇都宮大院工 )
12:15 ～ 13:45 休憩
13:45 ～ 14:00 界面ナノ構造評価のための高分解能レーザー励起光電子顕微鏡
谷内 敏之( 東大物性研 )
14:00 ～ 14:15 超薄膜構造におけるX線の干渉効果を利用した界面の元素分析
小林 治哉(筑波大院数理 , 物材機構 )
14:15 ～ 14:30 フレキシブル基板上に形成した薄膜のＸ線反射率測定のための簡便かつ再現性の高い試料固定法
香野 淳 (福岡大理)
14:30 ～ 14:45 Interface imaging of elements in atomic scale - Application of projection-type X-ray fluorescence imaging -
Wenyang Zhao (Tsukuba Univ. , NIMS )
14:45 ～ 15:00 異種金属基板を用いた二次元ルテニウムの電子状態操作
豊田 智史 (京都大学)
15:00 ～ 15:15 休憩
15:15 ～ 15:45 ペロブスカイト酸化物超薄膜の自動構造解析法開発
若林 裕助 ( 阪大基礎工 )
15:45 ～ 16:15 固体高分子形燃料電池電極触媒層の空間分解放射光計測
関澤 央輝 (高輝度光科学研究セ , 電通大燃料電池セ )
16:15 ～ 16:30 角度分解トポグラフィーと局所ロッキングカーブ法によるAlイオン注入SiC基板の歪状態の観察－X線侵入深さ依存性―
高橋 由美子(KEK-PF)
16:30 ～ 16:45 J-PARC MLF偏極中性子反射率計「写楽」の整備状況 2017春
宮田 登 (CROSS東海)
16:45 ～ 17:00 XANAMの効率的運用を目指した測定法の検討
鈴木 秀士 ( 名大院工)
