お知らせ

3月2日に第８回講習会を実施したばかりですが、やむなく欠席された皆様へのサポートも兼ね、第９回講習会を１１月に東京都内で開催いたします。ぜひ周囲の皆様にお勧めください。

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第9回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」
http://xray-neutron-buried-interface.jp/TutorialXRR2020.pdf

主催 (公社)応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析研究会
（http://xray-neutron-buried-interface.jp/）

日時　２０２０年１１月２６日（月）9:30～16:40
場所　飯田橋レインボービル 2C会議室
（〒162-0826 東京都新宿区市谷船河原町11番地 電話 03-3260-4791）
最寄り駅　JR・地下鉄「飯田橋」駅から徒歩5分

Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講習会 では、Ｘ線反射率法の経験豊富な専門家（「新版Ｘ線反射率法入門」（講談社2018年刊）の執筆陣）を講師に迎え、基礎から丁寧に解説を行うとともに、シミュレーションやデータ解析の実習 を少人数グループにて、きめ細かく行ないます。 休憩時間には「Ｘ線反射率相談デスク」を設け、日頃の疑問、質問したくてもなかなかできなかったことに ６名の専門家がお答えします。

09:15 　　　　開場、受付開始
09:30 -09:50　Ｘ線反射率法とは　 桜井健次（物材機構）
09:50 -10:50　Ｘ線反射率実験の注意事項　 表和彦（リガク）
10:50 -11:00　休憩
11:00 -12:00　Ｘ線反射率法のシミュレーション・データ解析実習
12:00 -13:00 昼食休憩 　（Ｘ線反射率相談デスク、6箇所設置）
13:00 -14:20　Ｘ線反射率法のシミュレーション・データ解析実習
14:20 -15:00　Ｘ線反射率データ例①有機・高分子薄膜 　林好一（名工大）
15:00 -15:30 Ｘ線反射率データ例②電子材料　 　川村朋晃（日亜化学）
15:30 -15:40　休憩
15:40 -16:20 Ｘ線反射率データ例③磁性薄膜・デバイス　上田和浩（日立）
16:20 -16:40 Ｘ線反射率データ例④電池・電気化学界面　宮田登（CROSS）
16:40 解散

実習は、実践コース (約4名　数年以上の経験のある方向け　担当　表和彦）
体験Aコース (約8名　初心者もしくは経験１～２年の方向け　担当　上田和浩)
体験Bコース（約8名　初心者もしくは経験１～２年の方向け　担当　桜井健次）
に分かれて実施します。

○実践コース 　(担当　表和彦　４名まで)
（検討したい実験データと ご自分のＰＣを必ずお持ちください。皆様の解析上の疑問点や不明点を個別指導致します。ご自分のデータをご自分で解析されたい方のみ参加できます。）
○体験Aコース（担当　上田和浩　 ８名まで)
（薄膜・多層膜の実際に得られたX線反射率データの解析を実演いたします。得られた生データから始め、一段階づつ進め、ご質問などにも回答しながら、最終的に答えを出すところまで、丁寧に解説いたします。)
○体験Bコース （担当　桜井健次　８名まで）
（実データの例を素材とし、多くのシミュレーションを行うことの重要性やデータ解析の考え方、個々の細かな手順、注意事項を解説いたします。使用するソフトウエアとデータは事前にダウンロードして頂き、ご自分のPCでご覧頂くこともできるようにする予定です。）

実習コースは実践、体験A, Bのなか からお選びいただきます。特にご希望のない場合も、個別にお話をうかががい、ご相談の上、最適のコースを決めさせて頂きます。なお、当日になってからのコース変更はできません。ご注意ください。

教材
「新版Ｘ線反射率法入門」（講談社、6804円）を参考書として配布するほか（ ご希望に応じ着払い宅急便にて事前送付も致します）、すべての講義に完全対応したレジュメを用意いたします。

定員　
約２０名
なお、2020年3月開催の第8回講習会を申し込まれ、手続き完了後にやむなくご来場いただけなかった皆様はご招待させて頂きます。当日は既にお送りしている参考書や配布資料をご持参ください。

参加申込み
　下記Webページにて、お申し込みください。
　折り返し、詳細なご連絡をいたします。
　http://xray-neutron-buried-interface.jp/ApplicationXRRschool.html

前回からだいぶ間があいてしまいましたが、第8回目になるX線反射率講習会を開催いたします。

ぜひ皆様の周辺の方にお薦めください。受付も開始しております。

よろしくお願いいたします。

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第８回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」
http://xray-neutron-buried-interface.jp/TutorialXRR2019.pdf

主催 (公社)応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析研究会
（http://xray-neutron-buried-interface.jp/）

日時　２０２０年３月２日（月）9:00～16:30
場所　 国立研究開発法人物質・材料研究機構　千現地区
（〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1 電話 029-859-2000）
http://www.nims.go.jp/jpn/visiting/tsukuba.html

最寄り駅　つくばエクスプレス線　つくば駅　南へ徒歩８分
http://www.mir.co.jp/

Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講習会 では、Ｘ線反射率法の経験豊富な専門家（「新版Ｘ線反射率法入門」（講談社2018年刊）の執筆陣）を講師に迎え、基礎から丁寧に解説を行うとともに、シミュレーションやデータ解析の実習 を少人数グループにて、きめ細かく行ないます。 休憩時間には「Ｘ線反射率相談デスク」を設け、日頃の疑問、質問したくてもなかなかできなかったことに ６名の専門家がお答えします。

08:40 　　　　　開場、受付開始
09:00 -09:30　　Ｘ線反射率法とは　　　　　　　 桜井健次（物材機構）
09:30 -10:30　　Ｘ線反射率実験の注意事項　　　表和彦（リガク）
10:40 -10:40　　休憩
10:30 -12:00　　Ｘ線反射率法のシミュレーション・データ解析実習
　　　　　　　（実践および経験A,Bコース
12:00 -13:00 　昼食休憩 　（12:30-13:00 Ｘ線反射率相談デスク、6箇所設置）
13:00 -14:00　 Ｘ線反射率法のシミュレーション・データ解析実習
　　　　　　　（実践および経験A,Bコース
14:00 -14:40　 Ｘ線反射率データ例① 有機・高分子薄膜　林好一　（名工大）
14:40 -15:10　 Ｘ線反射率データ例②　先端電子材料　 　川村朋晃（日亜化学）
15:10 -15:20　　休憩
15:20 -16:00　 Ｘ線反射率データ例③　磁性薄膜・デバイス　上田和浩（日立）
16:00 -16:30　 Ｘ線反射率データ例④　機能薄膜　 　　　　宮田登（CROSS）
16:30 解散　　（17:00まで X線反射率相談デスク、6箇所設置）

実習は、実践コース (約4名　数年以上の経験のある方向け　担当　表和彦）、
体験Aコース (約8名　初心者もしくは経験１～２年の方向け　担当　上田和浩)、
体験Bコース（約8名　初心者もしくは経験１～２年の方向け　担当　桜井健次）
に分かれて実施します。

○実践コース 　(担当　表和彦　４名まで)
（検討したい実験データと ご自分のＰＣを必ずお持ちください。皆様の解析上の疑問点や不明点を個別指導致します。ご自分のデータをご自分で解析されたい方のみ参加できます。）
○体験Aコース（担当　上田和浩 ８名まで)
（薄膜・多層膜の実際に得られたX線反射率データの解析を実演いたします。得られた生データから始め、一段階づつ進め、ご質問などにも回答しながら、最終的に答えを出すところまで、丁寧に解説いたします。)
○体験Bコース （担当　桜井健次 ８名まで）
（実データの例を素材とし、多くのシミュレーションを行うことの重要性やデータ解析の考え方、個々の細かな手順、注意事項を解説いたします。使用するソフトウエアとデータは講習会実習時間中、ダウンロードして、ご自分のPCでご覧頂くこともできるようにする予定です。）

実習コースは実践、体験A, Bのなか からお選びいただきます。特にご希望のない場合も、個別にお話をうかががい、ご相談の上、最適のコースを決めさせて頂きます。なお、当日になってからのコース変更はできません。ご注意ください。

教材
「新版Ｘ線反射率法入門」（講談社、6804円）を参考書として配布するほか（ ご希望に応じ着払い宅急便にて事前送付も致します）、すべての講義に完全対応したレジュメを用意いたします。

定員　

約２０名

参加申込み
　下記Webページにて、お申し込みください。
　折り返し、詳細なご連絡をいたします。
　　　http://xray-neutron-buried-interface.jp/ApplicationXRRschool.html

連絡先　 国立研究開発法人 物質・材料研究機構
　　　　 先端材料解析研究拠点　桜井健次
　 TEL 029-859-2821 FAX 029-859-2801
　 e-mail SAKURAI.Kenji@nims.go.jp

ちょうど「新版X線反射率法入門」（講談社2018年刊）が刊行されるのにあわせ　講習会を開催いたします。

ぜひ皆様の周辺の方にお薦めください。受付も開始しております。

よろしくお願いいたします。

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第７回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」
http://xray-neutron-buried-interface.jp/TutorialXRR2018.pdf

主催 (公社)応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析研究会
（http://xray-neutron-buried-interface.jp/）

日時　２０１８年９月２６日（水）9:00～16:30
場所　 国立研究開発法人物質・材料研究機構　千現地区
（〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1 電話 029-859-2000）
http://www.nims.go.jp/jpn/visiting/tsukuba.html

最寄り駅　つくばエクスプレス線　つくば駅　南へ徒歩８分
http://www.mir.co.jp/

Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講習会 では、Ｘ線反射率法の経験豊富な専門家（「新版Ｘ線反射率法入門」（講談社2018年刊）の執筆陣）を講師に迎え、基礎から丁寧に解説を行うとともに、シミュレーションやデータ解析の実習 を少人数グループにて、きめ細かく行ないます。 休憩時間には「Ｘ線反射率相談デスク」を設け、日頃の疑問、質問したくてもなかなかできなかったことに、 7名の専門家がお答えします。

08:40 　　　　　開場、受付開始
09:00 -09:30　Ｘ線反射率法とは　　　　　　　 桜井健次（物材機構）
09:30 -10:20　Ｘ線反射率実験の注意事項　　　表和彦（リガク）
10:20 -10:30　　休憩
10:30 -12:00　 Ｘ線反射率法のシミュレーション・データ解析実習（A,B,Cコース)
12:00 -13:00 　昼食休憩 　（12:30-13:00 Ｘ線反射率相談デスク、7箇所設置）
13:00 -13:40　 Ｘ線反射率法のシミュレーション・データ解析実習（A,B,Cコース)
13:40 -14:20　 Ｘ線反射率データ例① 有機・高分子薄膜 林好一　（名工大）
14:20 -15:00 　Ｘ線反射率データ例②　磁性体薄膜　　　上田和浩（日立）
15:00 -15:10　　休憩
15:10 -15:40 　Ｘ線反射率データ例③　半導体薄膜　　　 淡路直樹（富士通）
15:40 -16:05 　Ｘ線反射率データ例④　ナノドット　　　　奥田浩司（京大）
16:05 -16:30 　Ｘ線反射率データ例⑤　先端電子材料　 川村朋晃（日亜化学）　　　　　
16:30 解散　　（17:00まで X線反射率相談デスク、7箇所設置）

実習は、A. 実践コース (約4名　数年以上の経験のある方向け　担当　表和彦）、B. 体験コース (約8名　初心者もしくは経験１～２年の方向け　担当　淡路直樹)、C. 実演見学コース（約 8名　初心者もしくは経験１～２年の方向け　担当　桜井健次）に分かれて実施します。

A. 実践コース 　(担当　表和彦　約４名)
（検討したい実験データと ご自分のＰＣを必ずお持ちください。皆様の解析上の疑問点や不明点を個別指導致します。ご自分のデータをご自分で解析されたい方のみ参加できます。）
B. 体験コース（担当　淡路直樹　 約８名)
（ご自分のＰＣ(Windows)をお持ちください。実データの解析を体験して頂きます。講師が提供するいろいろな問題を考えて頂き、その解決を体感することで、データ解析のコツを習得できます。ソフトウエアとデータは講習会の数日前にダウンロードして頂きます。）
C. 実演見学コース （担当　桜井健次　約８名）
（講師が皆様の前でソフトウエアを使い、２～３の実データを例を素材として、シミュレーションを丹念に行うことの重要性やデータ解析の考え方、個々の細かな手順、注意事項を解説いたします。）　

実習コースはA, B, C のなか からお選びいただきます。特にご希望のない場合も、個別にお話をうかががい、ご相談の上、最適のコースを決めさせて頂きます。人数に関しては応募状況によって増減することがあります。なお、当日になってからのコース変更はできません。ご注意ください。

教材
「新版Ｘ線反射率法入門」（講談社、6804円）を参考書として配布するほか（ ご希望に応じ着払い宅急便にて事前送付も致します）、すべての講義に完全対応したレジュメを用意いたします。

定員　
約２０名

参加申込み
　下記Webページにて、お申し込みください。
　折り返し、詳細なご連絡をいたします。
　　　http://xray-neutron-buried-interface.jp/ApplicationXRRschool.html

連絡先　　国立研究開発法人 物質・材料研究機構
　　　　 先端材料解析研究拠点　桜井健次
　 TEL 029-859-2821 FAX 029-859-2801
　 e-mail SAKURAI.Kenji@nims.go.jp

昨年８月、５年半ぶりに復活させた講習会、本年も開催いたします。昨年よりも
よい講習会になるよう、講師一同、気を引き締めて準備しております。

ぜひ皆様の周辺の方にお薦めください。受付も開始しております。

よろしくお願いいたします。


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第６回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」
http://xray-neutron-buried-interface.jp/TutorialXRR2016.pdf

主催 (公社)応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析研究会
（http://xray-neutron-buried-interface.jp/）

日時　２０１６年８月２５日（木）9:00～16:30
場所　 国立研究開発法人物質・材料研究機構　千現地区
（〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1 電話 029-859-2000）
http://www.nims.go.jp/jpn/visiting/tsukuba.html

最寄り駅　つくばエクスプレス線　つくば駅　南へ徒歩８分
http://www.mir.co.jp/

Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、
密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講
習会 では、Ｘ線反射率法の経験豊富な専門家を講師陣に迎え、基礎から丁寧に
解説を行うとともにシミュレーションやデータ解析の実習 を少人数のグループ
にて、きめ細かく行ないます。 休憩時間には「Ｘ線反射率相談デスク」を設け、
日頃の疑問に思っていること、質問したくてもなかなかできなかったことに、
６名の専門家がお答えします。


08:40 　　　　　開場、受付開始
09:00 -09:40　　Ｘ線反射率法とは　　　　　　　桜井健次（物材機構）
09:40 -10:20　　Ｘ線反射率実験の注意事項　　　表和彦（リガク）
10:20 -10:30　　休憩
10:30 -12:00　　Ｘ線反射率法のシミュレーション・データ解析実習（A,B,Cコース)
12:00 -13:00　　昼食休憩 　（12:30-13:00 Ｘ線反射率相談デスク、６箇所設置）
13:00 -13:40　　Ｘ線反射率法のシミュレーション・データ解析実習（A,B,Cコース)
13:40 -14:10　　Ｘ線反射率データ例①　半導体薄膜　　淡路直樹（富士通）
14:10 -14:40 Ｘ線反射率データ例②　磁性体多層膜　上田和浩（日立）
14:40 -15:00 Ｘ線反射率データ例③　ナノドット　　奥田浩司（京大）
15:00 -15:10　　休憩
15:10 -15:30 Ｘ線反射率データ例④　ガラス転移・接着界面　　桜井健次（物材機構）
15:30 -16:00 Ｘ線反射率データ例⑤　先端電子材料　川村朋晃（日亜化学）　　　　　


実習は、A. 実践コース (6名まで　数年以上の経験のある方向け　担当　表和彦）、
B.体験コース (12名まで　初心者もしくは経験１～２年の方向け　担当淡路直樹)、
C. 実演見学コース （12名まで　初心者もしくは経験１～２年の方向け　担当　
桜井健次）に分かれて実施します。

A. 実践コース 　(担当　表和彦　６名まで)
（検討したい実験データと ご自分のＰＣを必ずお持ちください。皆様の解析上
の疑問点や不明点を個別指導致します。ご自分のデータをご自分で解析されたい
方のみ参加できます。）
B. 体験コース（担当　淡路直樹　 １２名まで)
（ご自分のＰＣ(Windows)をお持ちください。実データの解析を体験して頂きま
す。講師が提供するいろいろな問題を考えて頂き、その解決を体感することで、
データ解析のコツを習得できます。ソフトウエアとデータは講習会の数日前にダ
ウンロードできます。）
C. 実演見学コース （担当　桜井健次　１２名まで）
（講師が皆様の前でソフトウエアを使い、２～３の実データを例を素材として、
シミュレーションを丹念に行うことの重要性やデータ解析の考え方、個々の細か
な手順、注意事項を解説いたします。）　

実習コースはA, B, C のなか からお選びいただきます。特にご希望のない場合
も、個別にお話をうかががい、ご相談の上、最適のコースを決めさせて頂きます。
なお、当日になってからのコース変更はできません。ご注意ください。

教材
「Ｘ線反射率法入門」（講談社、5940円）を参考書として配布するほか （ご希
望があれば、着払い宅急便にて事前送付も致します）、すべての講義に完全対応
したレジュメを用意いたします。


定員　
３０名

参加申込み
氏名（ふりがな）、所属、住所、TEL、FAX、e-mail、 実習コース（A, B, C）の
ご希望をご連絡下さい。折り返し受付の連絡をいたします 。

国立研究開発法人物質・材料研究機構
量子ビームユニット 高輝度光解析グループ　
桜井健次
TEL 029-859-2821 FAX 029-859-2801

おかげさまで、無事に第４回のＸ線反射率法講習会を終了することが出来ました。
ご協力いただいた講師ならびに準備関係のご協力を頂いた全関係者の皆様、どうも有難うございました。

アンケート結果サマリ
====================
受講申込み受付総数　２７　（第１回６３　第２回５０、第３回３０）
取り消し　　　　　　　１　（第１回１、第２回１、第３回０）
欠席　　　　　　　　　０　（第２回２、第３回１）
出席者数　　　　　　２６　（第２回４７、第３回２９）

実習コース分け
　　　　　　　Ａ　３名　　Ｂ　　５名　　Ｃ　１７名　不参加　１名　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　合計２６名
　　（第２回　Ａ　６名　　Ｂ　１８名　　Ｃ　２０名　合計４６名）
　　（第３回　Ａ　６名　　Ｂ　　７名　　Ｃ　１６名　合計２９名）

アンケート回答数　　２５　（回収率９６．２％）
　　　　　　　　　　　　　（第２回９３．６％、第３回９６．６％）

満足度分布（１０点満点）
　１０　４名、９　６名、８　４名、７　３名、６　１名、５　２名
　無回答　５名
　無回答を除いた２０名の平均　８．１５

（参考）第３回
　１０　４名、９　５名、８　７名、７　４名、６　２名、４　１名
　無回答　５名
　無回答を除いた２３名の平均　８．０４
　なお、無回答５名のうち２名が「中級編受講希望」と記入

（参考）第２回
　１０　４名、９　５名、８．５　１名、８　１６名、７　９名、
　　５　１名、３　１名、２　１名、無回答　６名
　無回答を除いた３８名の平均　７．７５
　なお、無回答６名のうち３名が「再受講したい」と記入

講義内容について
「難しかった」と「やさしかった」と意見が分裂する傾向が、過去３回以上に目立つ。また、複数の講義の間での重複があり、整理したほうがよいとの指摘もある。

実習内容について
マン・ツー・マンの体制をとることができた経験者コースはたいへん好評。

続きを読む "第４回講習会終了"

おかげさまで、無事に第３回のＸ線反射率法講習会を終了することが出来ました。
ご協力いただいた講師ならびに準備関係のご協力を頂いた全関係者の皆様、どうも有難うございました。

アンケート結果サマリ
====================
受講申込み受付総数　３０　（第１回６３　第２回５０）
取り消し　　　　　　　０　（第１回１、第２回１）
欠席　　　　　　　　　１　（第２回２）
出席者数　　　　　　２９　（第２回４７）

応用編コース分け
　　半導体・磁性体薄膜　１６名　　有機薄膜　１３名
実習コース分け
　　　　　　Ａ　６名　　Ｂ　　７名　　Ｃ　１６名　合計２９名
　（第２回　Ａ　６名　　Ｂ　１８名　　Ｃ　２０名　合計４６名）

アンケート回答数　２８　（回収率９６．６％　第２回９３．６％）

満足度分布（１０点満点）
　１０　４名、９　５名、８　７名、７　４名、６　２名、４　１名
　無回答　５名
　無回答を除いた２３名の平均　８．０４
　なお、無回答５名のうち２名が「中級編受講希望」と記入

（参考）第２回
　１０　４名、９　５名、８．５　１名、８　１６名、７　９名、
　　５　１名、３　１名、２　１名、無回答　６名
　無回答を除いた３８名の平均　７．７５
　なお、無回答６名のうち３名が「再受講したい」と記入

講義内容について
「普通」が最多の１８（６４％）で、第１，２回よりも「難しかった」「とても難しかった」の比率が大幅に減少
リピーターの人から「昨年よりも分かりやすかった」というコメントもあり。

ただし、受講者の持っている知識、背景は、依然、多様であり、これだけ改良の努力をしても、まだ難しい、基礎的な事項の説明がほしいというコメントがある。

中級編（計画中）受講希望者数　７　（２５％）

（参考）
　再受講希望者数　　　第１回１０、第２回１５

東京都心開催希望　２０　（７１．４％）
つくば開催希望　　　３　（１０．７％）

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続きを読む "第３回講習会終了"

来月に予定している講習会の案内です。

第３回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」
http://xray-neutron-buried-interface.jp/TutorialXRR2009.htm

主催 (社)応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析研究会
（http://xray-neutron-buried-interface.jp/）
日時　2008年５月２２日（金）
場所 （独）物質・材料研究機構千現地区
（〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1 電話 029-859-2000）
　　http://www.nims.go.jp/jpn/visiting/tsukuba.html
　　最寄り駅　つくばエクスプレス線　つくば駅　南へ徒歩８分
　　http://www.mir.co.jp/

Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、
密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講
習会では、Ｘ線反射率法の経験豊富な専門家を講師陣に迎え、基礎から丁寧に解
説を行うとともに、シミュレーションやデータ解析の実習を少人数のグループに
て、きめ細かく行ないます。 休憩時間には「Ｘ線反射率相談デスク」を設け、
日頃の疑問に思っていること、質問したくてもなかなかできなかったことに、７
名の専門家がお答えします

続きを読む "第３回講習会（May 22, Tsukuba）"

過日の第１回会合にご参加の皆様には既にご案内済みですが、本研究会関係者１３名の執筆による「X線反射率法入門」は、２月第１週に全国書店の店頭にならぶ予定であります。Amazon.co.jp や Yahoo Books、７＆Ｙ などからも注文できますので、ご関係の皆様にはぜひお薦めくださいませ。

講談社が作った宣伝用チラシが下記にありますので、ご利用ください。
http://xray-neutron-buried-interface.jp/XRRBook.pdf
なお、5月22日開催の第３回講習会参加者は、本書を参考書として自動的に受け取ることができ、追加購入も１冊5000円でできる特典があります。

よろしくお願いいたします。

第３回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」を次の通り開催することになりました。

次のホームページにも案内を出しております。
http://xray-neutron-buried-interface.jp/TutorialXRR2009.htm

ご関心のある方、ぜひいらしてください。

続きを読む "第３回講習会"

「Ｘ線反射率法入門」（仮題）出版についての続報です。どんどん話は具体的になってきました。出版社（講談社サイエンティフィク）側の意向は、初版は８００～１０００部印刷、店頭での価格は５０００円（税込５２５０円）ということです。初版の５０％を買い取る計画です。

今月中に覚書を締結する予定でいます。

現状の講習会冊子バージョンにはない新規部分の執筆や、すでにあるものについても点検、改訂等の作業をこれから本格的に進めることになります。

関係者の皆様には、せっかく出すのですからぜひよい本になるよう、ご協力をお願いいたします。

また、その次の企画（Journal of Physics: Condensed Matter 誌の論文クラスター）についても、熱心なお問い合わせを頂き、有難うございます。自分も書こうという方は、まだまだ間に合いますので、ぜひ積極的にお願いいたします。実作業は、まずは「Ｘ線反射率法入門」の刊行を終えてからになりますが、それでも来年のことですので、それほど先ではありません。どうぞよろしくお願いいたします。

おかげさまで、無事に第２回のＸ線反射率法講習会を終了することが出来ました。
ご協力いただいた講師ならびに準備関係のご協力を頂いた全関係者の皆様、どうも有難うございました。

アンケート結果サマリ
====================
受講申込み受付総数　５０　（第１回６３　但し２日間）
出席者数　　　　　　４７
（実習参加者数　　　４６）
実習コース分け（名簿として記録に残ったもの）
　　　　　　　　　　Ａ　６名　　Ｂ　１８名　　Ｃ　２０名
アンケート回答数　　４４　（回収率９３．６％）
　　　　　　　　　（第１回は回収率８５％）

満足度分布（１０点満点）
　１０　４名、９　５名、８．５　１名、８　１６名、７　９名、
　　５　１名、３　１名、２　１名、無回答　６名
　無回答を除いた３８名の平均　７．７５
　なお、無回答６名のうち３名が「再受講したい」と記入

再受講希望者数　　　１５　（３４％）
（第１回は１０名）

◎散見されたコメント等
　・講義が難しかった、とても難しかった、とするものが依然ある。もっと基礎的な内容への要望があるようだ。
　（今回、相当に努力もして改良もしたのに）
　・１件当たりの講義時間が短い、という意見あり。事例の数を増やすより、丁寧に
詳しくやってほしいという観点
　（上の「難しかった」という意見とはまた異なる立場）
　・１件３０分だからよかったという意見もある
　・配布資料をカラーにしてほしい、という要望あり
　・専門用語やパラメータの説明を書いてほしい、という要望あり
　・講義もレベル別にしてはどうか、というコメントあり
　・「Ｘ線反射率法入門」は詳しくて参考になる、というコメントあり
　（ただし、全般に第１回のときのような大きな反響はない）
　・「Ｘ線反射率法入門」への質問を受け付けてはどうか、というコメントあり
　・Ｘ線反射率相談デスクは非常に好評。しかし、常に混雑していていっぱい。１人で長時間独占しているのはけしからん、といった類のコメントが多く見られた。
　・Ｘ線反射率相談デスクの混雑を解消するため、予約制のようなものを導入できないかという意見があった。
　・Ｘ線反射率相談デスクで、人によって答えが違うのであてにならないというコメントを書いた人が１人いた。
　・実習で、受講者のＰＣ操作体験を導入したことは好評。Ａ，Ｂとも受講者はおおむね満足のようだ。
　・実習コースＢでは、配布ソフトウエアが１日限定であることへの不満を述べた人が数名いる。他方、使いやすいソフトでよい教材であったというコメントもあった。
　・実習コースＣでは、レジュメがあるとよかった、というコメントあり。
　・実習コースＣでは、WMurexソフトウエアとパラメータの配布の要望あり
　・測定の実習も含めた講習会を要望
　・測定装置の見学をしたいという要望あり
　・会場が都内なら更に参加しやすい、というコメント１件あり
　・受講費がもっと安ければ更に参加しやすい、というコメント１件あり

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続きを読む "第２回講習会終了"

第２回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」を次の通り開催することになりました。ホームーページも用意しております。
http://xray-neutron-buried-interface.jp/TutorialXRR2008March.htm

○今回は１日で実施します。
○午前（講義、相談デスク）の会場は、第１回講習会と同じ場所（大きな会場）
です。
○午後（実習）の会場は、３会場とも４０名程度定員の通常の会議室になります。

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第２回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」

主催 (社)応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析グループ
（http://xray-neutron-buried-interface.jp/）

日時　2008年３月２６日（水）　（春の応用物理の１日前）
場所 （独）物質・材料研究機構千現地区
（〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1 電話 029-859-2000）
　http://www.nims.go.jp/jpn/visiting/tsukuba.html最寄り駅　つくばエクスプレス線　つくば駅　南へ徒歩８分
　http://www.mir.co.jp/

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おかげさまで、無事に第１回のＸ線反射率法講習会（11/29～30）を終了することが出来ました。ご協力いただいた講師、テキスト執筆者、ならび運営、会場関係のご協力を頂いた全関係者の皆様、どうも有難うございました。

以下、アンケート回収結果の簡単なサマリをお送りいたします。

受講申込み受付総数　　　　６３
全参加者数　　　　　　　　５９（申込取消１、欠席３）
第１日目（入門コース）　　５６
第２日目（応用発展コース）５０
アンケート回収数　　　　　５０（回収率８５％）
アンケートからのリピーター想定可能数　１０
　　　　　　　　　（リピーター想定率　１７％）

◎一様に好評だったもの
　・Ｘ線反射率相談デスク（４箇所設置）
　・送付サンプルのＸ線反射率事前測定（１２件受付）
　・テキスト「Ｘ線反射率法入門」
　・１日目の講義

◎一様にあまり評判が良くなかったもの
　・２日目の講義
　・１日目のシミュレーション実習

◎評価が分かれているもの
　・２日目のデータ解析実習

◎複数の人が指摘している事項
　・写真撮影や後方での雑談で気が散る
　・全般に初学者、入門者には難しい
　・講義のプリントが必要（テキストとは別に必要）
　・テキストの章間の不均衡
　・Ｘ線反射率相談デスクが常に混雑していていっぱい。デスク数、担当講師
　　数を増やすべき。
　・実習では受講者がＰＣ操作体験も希望
　・実習では（受付順ではなく）経験レベルや応用分野によりグループ分けすべ
き
　・実習会場が狭くて窮屈
　・実習の１日目と２日目のギャップが激しい（１日目が退屈）
　・測定の実習をやるものかと誤解していた

◎その他
　・テキストを追加購入したいとの要望

続きを読む "第１回講習会終了"

第１回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」を次の通り開催いたします。

次のホームページにも案内がございます。
http://xray-neutron-buried-interface.jp/TutorialXRR2007.htm

ぜひお近くの方もお誘いいただけると幸いです。

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講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」

主催 (社)応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析グループ
（http://xray-neutron-buried-interface.jp/）
協賛　日本放射光学会他

日時　2007年11月2９日（木）～３０日（金）
場所 （独）物質・材料研究機構千現地区
　　　（〒305-0047　茨城県つくば市千現1-2-1　http://www.nims.go.jp /)

Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講習会は、入門コース（第１日目）と応用・発展コース（第２日目）からなります。

入門コースでは、企業等の研究者・技術者や大学院生で、これから勉強してＸ線反射率法を使ってみたい方々を、応用・発展コースでは、多少なりとも経験のある方でスキルアップなさりたい方々を対象としておりますが、両コースの通し参加も歓迎いたしております。Ｘ線反射率法の経験豊富な専門家を講師陣に迎え、基礎から丁寧に解説を行うとともに、シミュレーションやデータ解析の実習も行ないます。休憩時間には「Ｘ線反射率相談デスク」を設け、日頃の疑問に思っていること、質問したくてもなかなかできなかったことに、５～６名の専門家がお答えします。

カリキュラム
第１日目（１１月２９日（木））　入門コース
9:00 - 9:30　Ｘ線反射率法とは　　　　　　　桜井健次（物材機構）
9:30 -10:20　Ｘ線反射率の装置・測定法　 　表和彦（リガク）
10:20 -10:40 休憩（Ｘ線反射率相談デスク）
10:40 -11:30 Ｘ線反射率法の半導体薄膜への応用　淡路直樹（富士通）
11:30 -12:00 Ｘ線反射率法のソフトマテリアル薄膜への応用　矢野陽子（立命
館大）
12:00 -13:00 昼食休憩（Ｘ線反射率相談デスク）
13:00 -13:50 Ｘ線反射率法の磁性体多層膜への応用　上田和浩（日立）
13:50 -14:20 休憩（Ｘ線反射率相談デスク）
14:20 -16:00 反射率法のシミュレーション実習

第２日目（１１月３０日（金））　応用・発展コース
9:00 - 9:10 Ｘ線反射率法をどう活用するか　　　　桜井健次（物材機構）
9:10 -10:00 全反射条件下での薄膜のＸ線回折法　　川村朋晃（日亜化学）
10:00 -10:20 休憩（Ｘ線反射率相談デスク）
10:20 -11:10 ブラッグ点まわりのＸ線反射率法による化合物半導体の解析　竹
田美和（名大）
11:10 -12:00 反射小角散乱法によるナノ粒子の解析　奥田浩司（京大）
12:00 -13:00 昼食休憩（Ｘ線反射率相談デスク）
13:00 -16:00 反射率法のデータ解析実習
受講者がデータ解析のスキルを習得できる実習を予定しています。
ご希望があれば、あらかじめお預かりした試料について、当日までにこちらで反
射率測定を行い、そのデータ解析を体験して頂くことも可能です。試料をお持ち
の方は、申し込み時にその旨ご連絡下さい。

定員　６０名（定員になり次第、締め切ります）

参加申込方法
氏名（ふりがな）、所属、住所、TEL、FAX、e-mail、ご希望のコースをご連絡下さい。折り返し受付の連絡を致します。

連絡先：〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1　物質・材料研究機構　桜井健次
（TEL 029-859-2821、FAX 029-859-2801、sakurai@yuhgiri.nims.go.jp）

3月28日に開催された「反射率法の書籍出版に関する第１回会合」から、だいぶ時間が経ってしまいました。

日時：２００７年３月２８日（水）１８：００～２０：００
場所：相模原第一ホテル　会議室
出席者：川村（ＮＴＴ）、林（東北大）、竹田（名大）、武田（原子力機構東海）、
谷（リコー）、鳥飼（ＫＥＫ）、矢代（東大）、矢野（立命館大）、表（リガク）、
坂田（JASRI）、桜井、石井、水沢（ＮＩMＳ）以上敬称略　　１３名

議事メモ案
http://xray-neutron-buried-interface.jp/record/Meeting070328a.pdf（パスワード設定あり）

詳細は議事メモをご覧頂くとして、この書籍出版を順調に進めるために、出版に先立って講習会を企画するのがよいと考えられ、現在、その方向で次のように企画準備中です。ご意見、ご提案をお待ちしております。

　名称　講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」（仮名称）
　日程　２日　朝９時（または１０時）～夕方４時（または５時）（暫定案）
　　　　　第１日目　入門コース
　　　　　第２日目　応用・発展コース
　会場　未定　（無料のところ。物質・材料研究機構　つくば千現地区等）
　　　（東京、横浜などで無料の会場があれば、なお望ましい）
　定員　各日５０名　（１～２日通し参加も可）
　料金　各コース　１万２０００円/人　通し参加２万円　（暫定案）
　　　　（応用物理学会員割引、学生割引を考慮予定）